Arquivamento definitivo por descumprimento
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2264 de 27/05/2014.
30/09/2014
RPI 2282
Dados do pedido
Número
PI0312793Tipo
Depósito
Publicação
PCT
US2003022532 Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 30/09/2014. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Columbian Chemicals Company
US
Inventores
B. S. (pessoa física)
US
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
60/397,428 · 19/07/2002
Resumo técnico
"AMOSTRAGEM DE NEGRO DE CARBONO PARA MEDIÇÃO DE ÁREA DE SUPERFÍCIE DE PARTÍCULA USANDO INCANDESCÊNCIA INDUZIDA POR LASER E PROCESSO DE CONTROLE EM REATOR BASEADO NISSO". A presente invenção se refere a um método para amostragem in-situ e medição de pureza de particulado (por exemplo, negro de carbono) num processo de corrente, tal como no reator de negro de carbono, compreendendo (a) amostragem de partículas in-situ a partir de um processo de corrente, (b) ajuste da amostra a condições adequadas para 1,11, (c) medição da pureza usando IIL, e (d) correlacionamento da medição de pureza IIL com a pureza real da partícula. Método de amostragem in-situ de uma corrente que contém uma partícula e medição da pureza da partícula usando incandescência induzida por laser (IIL) compreendendo (a) amostragem de partícula in-situ, (b) ajuste da amostra a condições adequadas para IIL, (c) medição da amostra ajustada usando IIL, e (d) correlacionamento das medidas IIL com a pureza real da partícula. Também está incluído um método de amostragem e controle de um processo baseado em métodos de tempo-real, on-line, in-situ para amostragem e medição de partículas. Amostragem pode compreender retirar um sidestream de uma fonte de partículas. Ajustar a amostra a condições adequadas para IIL pode compreender dilur a amostra ou trazer a temperatura da amostra à condição ambiente Correlacionar pode compreender usar uma função de correlação determinada por comparação de medições IIL e medições de pureza laboratoriais para amostras de partícula retiradas ao mesmo tempo.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2264 de 27/05/2014.
30/09/2014
RPI 2282
#8.6
Referente à 11ª anuidade.
27/05/2014
RPI 2264
Referente ao despacho 15.9 da RPI 2016 de 25/08/2009 por ter sido indevido.
15/09/2009
RPI 2019
* Perda da prioridade reivindicada (US 60/397,428), por não estar em conformidade com o previsto nos §6º e §7º do Art.16 da LPI/96.
25/08/2009
RPI 2016
#1.3
03/05/2005
RPI 1791
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