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Dado oficial do INPI

AMOSTRAGEM DE NEGRO DE CARBONO PARA MEDIÇÃO DE ÁREA DE SUPERFÍCIE DE PARTÍCULA USANDO INCANDESCÊNCIA INDUZIDA POR LASER E PROCESSO DE CONTROLE EM REATOR BASEADO NISSO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · US2003022532

Dados do pedido

Número

PI0312793

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

18/07/2003

Publicação

03/05/2005

PCT

US2003022532

Andamento no INPI

  1. Depósito18/07/03
  2. Publicação03/05/05
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 30/09/2014. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Columbian Chemicals Company

US

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

B. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

60/397,428 · 19/07/2002

Resumo técnico

"AMOSTRAGEM DE NEGRO DE CARBONO PARA MEDIÇÃO DE ÁREA DE SUPERFÍCIE DE PARTÍCULA USANDO INCANDESCÊNCIA INDUZIDA POR LASER E PROCESSO DE CONTROLE EM REATOR BASEADO NISSO". A presente invenção se refere a um método para amostragem in-situ e medição de pureza de particulado (por exemplo, negro de carbono) num processo de corrente, tal como no reator de negro de carbono, compreendendo (a) amostragem de partículas in-situ a partir de um processo de corrente, (b) ajuste da amostra a condições adequadas para 1,11, (c) medição da pureza usando IIL, e (d) correlacionamento da medição de pureza IIL com a pureza real da partícula. Método de amostragem in-situ de uma corrente que contém uma partícula e medição da pureza da partícula usando incandescência induzida por laser (IIL) compreendendo (a) amostragem de partícula in-situ, (b) ajuste da amostra a condições adequadas para IIL, (c) medição da amostra ajustada usando IIL, e (d) correlacionamento das medidas IIL com a pureza real da partícula. Também está incluído um método de amostragem e controle de um processo baseado em métodos de tempo-real, on-line, in-situ para amostragem e medição de partículas. Amostragem pode compreender retirar um sidestream de uma fonte de partículas. Ajustar a amostra a condições adequadas para IIL pode compreender dilur a amostra ou trazer a temperatura da amostra à condição ambiente Correlacionar pode compreender usar uma função de correlação determinada por comparação de medições IIL e medições de pureza laboratoriais para amostras de partícula retiradas ao mesmo tempo.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2264 de 27/05/2014.

30/09/2014

RPI 2282

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 11ª anuidade.

27/05/2014

RPI 2264

15.30

Referente ao despacho 15.9 da RPI 2016 de 25/08/2009 por ter sido indevido.

15/09/2009

RPI 2019

15.9

* Perda da prioridade reivindicada (US 60/397,428), por não estar em conformidade com o previsto nos §6º e §7º do Art.16 da LPI/96.

25/08/2009

RPI 2016

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

03/05/2005

RPI 1791

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