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Dado oficial do INPI

APARELHO E MÉTODO PARA TESTAR RESISTÊNCIA MECÂNICA DE SUPERFÍCIE DE DISCO ÓPTICO

IndeferidaPatente de InvençãoPCT · KR2003001546

Dados do pedido

Número

PI0307929

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

31/07/2003

Publicação

21/12/2004

PCT

KR2003001546

Andamento no INPI

  1. Depósito31/07/03
  2. Publicação21/12/04
  3. Exame
  4. Indeferido06/12/16
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido em 06/12/2016 e o recurso não mudou a decisão. A invenção não chegou a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 06/12/2016. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

LG Electronics INC.

KR

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Inventores

J. H. (pessoa física)

KR

K. H. (pessoa física)

KR

K. C. (pessoa física)

KR

L. H. (pessoa física)

KR

S. H. (pessoa física)

KR

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

KR

10-2003-0016513 · 17/03/2003

Resumo técnico

"APARELHO E MÉTODO PARA TESTAR RESISTÊNCIA MECÂNICA DE SUPERFÍCIE DE DISCO ÓPTICO". São revelados um aparelho e método para testar resistência mecânica de uma superfície de um disco óptico. O aparelho inclui uma placa giratória, na qual um disco óptico a ser arranhado é carregado para girar o disco óptico carregado, e uma pluralidade de rodas de abrasão dispostas perpendiculares à placa giratória, para contatar o disco óptico e gerar o arranhão, o arranhão sendo gerado quando o disco óptico gira menos de 5 voltas para que as rodas de abrasão apliquem uma carga predeterminada no disco óptico.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Indeferimento mantido em recurso

#9.2.4

MANTIDO O INDEFERIMENTO UMA VEZ QUE NÃO FOI APRESENTADO RECURSO DENTRO DO PRAZO LEGAL.

06/12/2016

RPI 2396

Indeferimento

#9.2

Indefiro o pedido de acordo com Art. 8° combinado com Art. 13 da LPI

09/08/2016

RPI 2379

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

12/04/2016

RPI 2362

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

21/12/2004

RPI 1772

Monitoramento de patentes

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