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Dado oficial do INPI

APARELHO MONITORADOR PARA MEDIDA DIRETA E MULTI-ANGULAR DO ÍNDICE DE REFRAÇÃO, MÉTODO E USO DO MESMO

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI0305389

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

24/10/2003

Publicação

28/06/2005

Andamento no INPI

  1. Depósito24/10/03
  2. Publicação28/06/05
  3. Exame
  4. Deferimento18/07/17
  5. Concessão12/09/17
  6. Em vigor24/10/23

Patente concedida em 12/09/2017 e em vigor até 24/10/2023. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:24/10/2023

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Última movimentação publicada pelo INPI: 12/09/2017. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

U. S. (pessoa física)

RS, BR

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Inventores

A. M. (pessoa física)

BR

F. H. (pessoa física)

BR

H. G. (pessoa física)

BR

J. L. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

"APARELHO MONITORADOR PARA MEDIDA DIRETA E MULTI-ANGULAR DO ÍNDICE DE REFRAÇÃO, MÉTODO E USO DO MESMO". É descrito um aparelho monitorador para medida direta e multi-angular do indice de refração durante a evolução temporal e/ou espacial no processo de fabricação de uma amostra, o aparelho compreendendo um módulo constituído de uma base (1) com parte articulada sobre a qual são montados pelo menos uma fonte luminosa (7), que emite luz que é polarizada ao passar por pelo menos um polarizador de luz (8), a luz sendo expandida e colimada ao passar por lentes (3) e (4) convergentes, por uma fenda (9) e por uma lente (5) convergente, o cone de luz apresentando variação angular adequada ao intervalo varrido, dito cone sendo então focalizado sobre a amostra (11) adaptada a um suporte (10) dotado de sistema de determinação angular, o cone de luz sendo coletado e colimado por uma lente (6) convergente na direção de um detetor (12), sendo que para cada ângulo de incidência da luz, o cone de luz é coletado e colimado por uma lente (6) convergente na direção de um detetor (12), sendo que para cada ângulo de incidência da luz, o detetor (12) detecta a refletância, os valores de refletância nos diversos ângulos sendo comparados como padrão de referência de refletância, pelo que é possível detectar a evolução temporal da refletância da amostra (11). É igualmente descrito o método de determinação do índice de refração de uma amostra resultante d e um processo utilizando o aparelho da invenção, bem como os usos do dito aparelho em processos industriais.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

12/09/2017

RPI 2436

Deferimento

#9.1

18/07/2017

RPI 2428

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

11/04/2017

RPI 2414

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

13/12/2016

RPI 2397

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

19/07/2016

RPI 2376

15.7

Não conhecida a petição nº 016100002439/RS de 10/05/2010 em virtude do disposto no Art. 218 inciso I da LPI.

11/10/2011

RPI 2127

15.7

Não conhecida a petição nº 016060015074/RS de 01/11/2006 em virtude do disposto no Art. 218 inciso I da LPI e a petição nº 016090002824/RS de 11/05/2009 em virtude do disposto no Art. 219 inciso II da LPI.

06/04/2010

RPI 2048

6.7

Para que seja aceita a petição nº 016060015074/RS apresente petição de desarquivamento do pedido e documentação original ou autenticada que comprove que o signatário da petição possui poderes para representar a depositante, bem como a respectiva retribuição relativa ao cumprimento de exigência.

07/04/2009

RPI 1996

Publicação do pedido de patente

#3.1

28/06/2005

RPI 1799

Pedido de patente depositado

#2.1

13/04/2004

RPI 1736

Monitoramento de patentes

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