Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
04/12/2007
RPI 1926
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Dado oficial do INPI
ESPELHO ARTICULADO PARA REFLETIR FEIXES INFRAVERMELHOS, FEIXES DE LASER OU FEIXES DE LUZ
ArquivadaPatente de Invenção
Dados do pedido
Número
PI0302560Tipo
Patente de Invenção
Depósito
14/01/2003
Publicação
29/03/2005
Andamento no INPI
- Depósito14/01/03
- Publicação29/03/05
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 14/01/2003, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 04/12/2007. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
V. N. (pessoa física)
MG, BR
Inventores
V. N. (pessoa física)
BR
Dados técnicos
Classificação IPC
Resumo técnico
"ESPELHO ARTICULADO PARA REFLETIR FEIXES INFRAVERMELHOS, FEIXES DE LASER OU FEIXES DE LUZ". Sistema caracterizado por um espelho articulado que permite o ajuste em dois eixos, vertical e horizontal, da reflexão de um ou mais feixes infravermelhos, feixes de laser ou feixes de luz emitidos por sensores eletrônicos ativos utilizados em sistemas de segurança eletrônica, afim de diminuir o custo das instalações por substituir os sensores eletrônicos ativos emissor e receptor intermediários e reduzir a mão-de-obra.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
08/05/2007
RPI 1896
Publicação do pedido de patente
#3.1
29/03/2005
RPI 1786
Pedido de patente depositado
#2.1
30/09/2003
RPI 1708
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