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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO SENSOR DE FRENTES DE ONDA COM SIMETRIA CILÍNDRICA PARA MEDIR ABERRAÇÕES ÓPTICAS

Arquivada/ExtintaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI0201535

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

18/04/2002

Publicação

13/01/2004

Andamento no INPI

  1. Depósito18/04/02
  2. Publicação13/01/04
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 09/03/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Eyetec Equipamentos Oftálmicos, Indústria, Comércio, Importação e Exportação Ltda. - EPP

SP, BR

Eyetec Equipamentos Oftálmicos Industria e Comércio Ltda-Me.

SP, BR

Opto Eletrônica S/A

SP, BR

Inventores

J. N. (pessoa física)

BR

L. C. (pessoa física)

BR

P. S. (pessoa física)

BR

W. S. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

"DISPOSITIVO SENSOR DE FRENTES DE ONDA COM SIMETRIA CILÍNDRICA PARA MEDIR ABERRAÇÕES ÓPTICAS". Notadamente de uma técnica com simetria cilíndrica para se medir frentes de onda que emergem de sistemas ópticos, e determinar através destas as aberrações presentes em tal sistema. O dispositivo que implementa esta técnica é baseado principalmente em uma lente com esta simetria denominada toros concêntricos, e formada por sucessivos anéis de lentes cilíndricas que se fecham sobre si mesmas formando círculos. O princípio básico de funcionamento utilizado no projeto requer um sistema óptico que focalize a luz emitida de uma fonte emissora de laser no fundo do olho, ou seja, na retina. A luz refletida de forma difusa a partir deste ponto atravessa o sistema óptico que constitui o olho, e em seguida é projetada por intermédio da lente toros concêntricos sobre um sensor CCD. Os pontos captados no sensor são processados matematicamente em um algoritmo adaptado a simetria cilíndrica, e escritos em funções também adaptadas a esta simetria. O resultado são a componentes das aberrações presentes no olho, escritas em coordenadas polares, em termos dos polinômios de Zernike.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2602 de 17-11-2020 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

09/03/2021

RPI 2618

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente às 11ª, 12ª, 13ª, 14ª, 15ª, 16ª, 17ª e 18ª anuidades.

17/11/2020

RPI 2602

8.9

Anulada a publicação código 8.12 na RPI nº 2258 de 15/04/2014 por ter sido indevida.

10/11/2020

RPI 2601

8.12

Referente ao não recolhimento das 11ª e 12ª anuidades.

15/04/2014

RPI 2258

Anotação de limitação ou ônus

#25.13

Referência: SINPI Nº 232683/2013Execução Fiscal - Autos nº 0002245-30.2012.403.6115, 0002254-89.2012.403.6115, 0000025-25.2013.403.6115.Anotada a penhora do pedido de patente em epígrafe, conforme determinação do M.M. Juiz Federal Substituto da 1ª Vara Federal de São Carlos - SP.

28/01/2014

RPI 2247

Alteração de nome deferida

#25.4

Alterado de: Eyetec Equipamentos Oftálmicos, Indústria e Comércio Ltda - ME

21/12/2010

RPI 2085

Transferência anulada

#25.10

Anulada a Exigência publicada na RPI 2067 de 17/08/2010, por ter sido indevida.

28/09/2010

RPI 2073

Alteração de nome em exigência

#25.6

Afim de atender a Alteração de Nome e Sede solicitada através da Petição nº 018090051605/SP de 16/11/2009, primeiro queira o interessado apresentar a guia de pagamento com relação ao serviço de alteração de sede. Segundo, apresentar o contrato social da empresa vinculando o primeiro nome da firma, nome apresentado no pedido de patente, com o nome atual a ser alterado.

17/08/2010

RPI 2067

Publicação do pedido de patente

#3.1

13/01/2004

RPI 1723

Pedido de patente depositado

#2.1

11/06/2002

RPI 1640

Monitoramento de patentes

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