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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA PROGNOSTICAR A DURABILIDADE AO AR LIVRE DO PRIMEIRO REVESTIMENTO

Arquivada/ExtintaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI0200255

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

31/01/2002

Publicação

08/10/2002

Andamento no INPI

  1. Depósito31/01/02
  2. Publicação08/10/02
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 17/11/2009. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Rohm And Haas Company

US

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Inventores

K. W. (pessoa física)

US

P. C. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

60/266727 · 06/02/2001

Resumo técnico

"MÉTODO PARA PROGNOSTICAR A DURABILIDADE AO AR LIVRE DO PRIMEIRO REVESTIMENTO". Método para prognosticar a durabilidade ao ar livre do primeiro revestimento relativo à durabilidade ao ar livre de pelo menos um outro da série de revestimentos, todos os revestimentos tendo sido formados a partir de composições aquosas de revestimento que compreendem polímero em emulsão termoplástica particularmente polimero em emulsão termoplástica predominantemente acrílico, e, opcionalmente, pigmento, que compreende expor a série de revestimentos às mesmas condições ao ar livre ambiente durante o mesmo período de tempo, submetendo os revestimentos expostos ao teste de quimioluminescência, e comparando o resultado de citado teste de quimioluminescência efetuado no primeiro revestimento ao resultado correspondente para pelo menos um outro da série de revestimentos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho publicado na RPI 1980 de 16/12/2008.

17/11/2009

RPI 2028

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente á 3ª,4ª,5ª,6ª e 7ª anuidades.

16/12/2008

RPI 1980

Publicação do pedido de patente

#3.1

08/10/2002

RPI 1657

Pedido de patente depositado

#2.1

26/03/2002

RPI 1629

Monitoramento de patentes

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