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Dado oficial do INPI

MÉTODO E EQUIPAMENTO PARA CONTROLAR ESTÁGIOS DE UM CIRCUITO DE MÚLTIPLOS ESTÁGIOS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2001046188

Dados do pedido

Número

PI0115060

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

31/10/2001

Publicação

18/10/2005

PCT

US2001046188

Andamento no INPI

  1. Depósito31/10/01
  2. Publicação18/10/05
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 31/10/2001, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 27/11/2007. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Q. I. (pessoa física)

US

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Inventores

S. W. (pessoa física)

US

S. B. (pessoa física)

US

V. P. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

09/703,647 · 01/11/2000

Resumo técnico

"MÉTODO E EQUIPAMENTO PARA CONTROLAR ESTÁGIOS DE UM CIRCUITO DE MÚLTIPLOS ESTÁGIOS". Um mecanismo de controle que pode ser usado para controlar um para prover o nível requerido de desempenho, reduzindo concomitantemente o consumo de energia. O ADC é projetado com múltiplos estágios (isto é, loops ou seções) e propicia melhor desempenho (por exemplo, faixa dinâmica mais alta) a medida que mais estágios são habilitados. o mecanismo de controle habilita seletivamente um número suficiente de estágios para prover o desempenho requerido e desabilita os estágios restantes para economizar energia. O mecanismo de controle consegue isto por medir uma ou mais características (por exemplo, nível de sinal) do sinal de entrada ADC através de um ADC que é similar ao ADC na trajetória de sinal, comparando a(s) característica(s) medida(s) a níveis limites específicos e controlando os estágios de tal forma que sejam atingidos os objetivos desejados. Em uma implementação, o circuito de controle inclui um ou mais estágios de detectores, um circuito de condicionamento e um processador de sinal. o(s) estágio(s) detector(es) recebe(m) o sinal de entrada e provê(em) um sinal detectado. O circuito de condicionamento recebe o sinal detectado e provê amostras condicionadas. o processador de sinal recebe as amostras condicionadas e provê um sinal de controle que desabilita seletivamente zero ou mais estágios no ADC .

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

27/11/2007

RPI 1925

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

20/03/2007

RPI 1889

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

18/10/2005

RPI 1815

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