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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO PARA A ANÁLISE QUÍMICA DE AMOSTRAS DE MATERIAL, BEM COMO RECIPIENTE METALÚRGICO PARA ISSO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · AT2001000306

Dados do pedido

Número

PI0114292

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

27/09/2001

Publicação

29/07/2003

PCT

AT2001000306

Andamento no INPI

  1. Depósito27/09/01
  2. Publicação29/07/03
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 11/08/2009. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Voest-Alpine Industrieanlagenbau GMBH & CO

AT

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Inventores

D. B. (pessoa física)

AT

J. H. (pessoa física)

AT

J. G. (pessoa física)

AT

N. R. (pessoa física)

AT

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

AT

A 1647/2000 · 28/09/2000

Resumo técnico

"DISPOSITIVO PARA A ANÁLISE QUÍMICA DE AMOSTRAS DE MATERIAL, BEM COMO RECIPIENTE METALÚRGICO PARA ISSO". Um dispositivo para a análise química de amostras sólidas ou fundidas de material (8), com base em espectroscopia de emissão induzida a laser, está equipado com uma fonte de laser (10) que gera um raio laser (11), um dispositivo de desvio que desvia o raio laser, um dispositivo de focalização que foca o raio laser (11), bem como um dispositivo que guia de reflexões (26) de um plasma (25), inflamado pelo raio laser (11) sobre a amostra de material (8), para um dispositivo de avaliação (28), tal como um espectrômetro. Para poder dispor a fonte de laser (10) e o dispositivo de avaliação (28) bastante afastados da amostra de material (8) e sem influência da amostra de material (8), entre a fonte de laser (10) e a amostra de material (8) é previsto um braço (14) para a condução do raio laser (11), braço este que está equipado com pelo menos uma articulação móvel (12) e que apresenta um compartimento oco para o raio laser (11) e em cujo ponto de articulação (12) é previsto o dispositivo de desvio configurado como espelho ou como prisma, sendo que a fonte de laser (10), bem como a unidade de avaliação (28) estão dispostas independentemente da amostra de material (8) quanto ao movimento.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 1964 de 26/08/2008 e considerando a ausência de manifestação dentro dos prazos legais.

11/08/2009

RPI 2014

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente a 4ª, 5ª, 6ª e 7ª anuidades.

26/08/2008

RPI 1964

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

29/07/2003

RPI 1699

Monitoramento de patentes

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