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Dado oficial do INPI

MÉTODOS PARA AJUSTAR UM VALOR ÓTIMO DE UM PARÂMETRO DE ESCRITA PARA USO EM UM APARELHO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA, E DE UM NÍVEL DE POTÊNCIA DE ESCRITA DE UM FEIXE DE RADIAÇÃO, APARELHO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA PARA GRAVAR INFORMAÇÃO SOBRE UM MEIO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA, E, MEIO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · EP2001013159

Dados do pedido

Número

PI0107658

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/11/2001

Publicação

19/11/2002

PCT

EP2001013159

Andamento no INPI

  1. Depósito12/11/01
  2. Publicação19/11/02
  3. Exame
  4. Deferimento06/05/14
  5. Concessão12/08/14
  6. Expirado18/02/25

Carta-patente expirada em 18/02/2025: o prazo de proteção chegou ao fim. A tecnologia está em domínio público e pode ser explorada livremente no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 18/02/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.

NL

K. V. (pessoa física)

NL

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Inventores

A. S. (pessoa física)

NL

C. X. (pessoa física)

NL

J. S. (pessoa física)

NL

J. P. (pessoa física)

NL

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

00125983.7 · 28/11/2000

EP

00204046.7 · 17/11/2000

Resumo técnico

"MÉTODOS PARA AJUSTAR UM VALOR ÓTIMO DE UM PARÂMETRO DE ESCRITA PARA USO EM UM APARELHO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA, E DE UM NÍVEL DE POTÊNCIA DE ESCRITA DE UM FEIXE DE RADIAÇÃO, APARELHO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA PARA GRAVAR INFORMAÇÃO SOBRE UM MEIO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA E MEIO DE GRAVAÇÃO ÓPTICA". Métodos e um aparelho de gravação óptica usando estes métodos são descritos em que uma potência de escrita ótima de um feixe de radiação no aparelho é ajustada escrevendo uma série de padrões de teste no meio de gravação óptica, formando um sinal de leitura dos padrões e processando o sinal de leitura. Tal processamento envolve adaptar uma função, preferivelmente uma linha reta, a parâmetros obtidos do sinal de leitura sem ter que executar uma etapa de diferenciação. Um meio de gravação óptica para uso pelos métodos e pelo aparelho também é descrito.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Carta-patente expirada

#21.1

PATENTE EXTINTA EM 12/08/2024

18/02/2025

RPI 2824

Alteração de sede deferida

#25.7

05/04/2016

RPI 2361

Alteração de nome deferida

#25.4

19/01/2016

RPI 2350

Concessão da patente

#16.1

12/08/2014

RPI 2275

Deferimento

#9.1

06/05/2014

RPI 2261

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

24/12/2013

RPI 2242

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

19/11/2002

RPI 1663

Monitoramento de patentes

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