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Dado oficial do INPI

MODELAGEM CARACTERÍSTICA EM UM MODELO DE ELEMENTO FINITOS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2001020741

Dados do pedido

Número

PI0106991

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

29/06/2001

Publicação

01/02/2005

PCT

US2001020741

Andamento no INPI

  1. Depósito29/06/01
  2. Publicação01/02/05
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 29/06/2001, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 11/04/2006. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Object Reservoir, INC.

US

Inventores

S. K. (pessoa física)

US

S. B. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

60/215,697 · 29/06/2000

Resumo técnico

"MODELAGEM CARACTERÍSTICA EM MODELO DE ELEMENTOS FINITOS". É descrito um método para simular um sistema físico utilizando técnicas de elementos finitos, em que dois ou mais modelos distintos correspondentes a regiões distintas dentro do sistema modelado são resolvidos, cada um com um avaliador correspondente. Nós que ficam nas fronteiras entre os modelos podem ter diferentes valores correspondente aos diferentes modelos. Quando um determinado modelo é resolvido, o avaliador para esse modelo é utilizado para obter os valores apropriados para cada um desses nós comuns. Em uma configuração, um primeiro modelo é definido, depois uma região correspondente a uma característica particular dentro do sistema é esculpida dele. Um modelo de elementos finitos correspondente à característica é então inserido na região. Os elementos finitos podem ser adaptados para compartilhar os nós nas fronteiras entre eles.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

11/04/2006

RPI 1840

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

27/09/2005

RPI 1812

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/02/2005

RPI 1778

Monitoramento de patentes

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