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Dado oficial do INPI

COMUTADOR DE AMOSTRAGEM LINEAR

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · US2000000666

Dados do pedido

Número

PI0007479

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

11/01/2000

Publicação

23/04/2002

PCT

US2000000666

Andamento no INPI

  1. Depósito11/01/00
  2. Publicação23/04/02
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 16/07/2013. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Q. I. (pessoa física)

US

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Inventores

S. B. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

09/228,827 · 12/01/1999

Resumo técnico

"COMUTADOR DE AMOSTRAGEM LINEAR". Um circuito de amostragem é construído com um transistor de efeito de campo (FET) com um canal-p e um canal-n. Um nó fonte do FET de canal-p (42) é acoplado com um nó dreno do FET de canal-n (40) e um nó dreno do FET de canal-p (42) é acoplado com um nó fonte do FET de canal-n (40) . Um clock de aMostragem é acoplado com o nó porta de cada FET. Um primeiro lado do circuito de amostragem linear é conectado com uma fonte de sinal analógico ou RF e um lado distal do circuito de amostragein linear é conectado com um capacitor de retenção (44). O FET de canal-ri tem uma largura de canal-n. Um FET de canal-p tem uma largura de canal-p. A largura de canal-p é maior que a largura de canal-n de maneira a aumentar a linearidade da resistência em estado ligado do comutador resultante.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2168 de 24/07/2012.

16/07/2013

RPI 2219

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 12ª anuidade.

24/07/2012

RPI 2168

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

14/02/2012

RPI 2145

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

23/04/2002

RPI 1633

Monitoramento de patentes

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