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Dado oficial do INPI

SISTEMAS E PROCESSOS PARA A CALIBRAÇÃO NÃO-COPLANAR DE UM SISTEMA DE VARREDURA

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI0005556

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

24/11/2000

Publicação

31/07/2001

Andamento no INPI

  1. Depósito24/11/00
  2. Publicação31/07/01
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 05/02/2013. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

X. C. (pessoa física)

US

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Inventores

D. T. (pessoa física)

US

E. S. (pessoa física)

US

J. H. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

09/449,349 · 24/11/1999

Resumo técnico

Patente de Invenção: "SISTEMAS E PROCESSOS PARA A CALIBRAÇÃO NÃO-COPLANAR DE UM SISTEMA DE VARREDURA" . Sistema de calibração não-coplanar que se dá quando do deslocamento do plano de referência de calibração a partir de um plano do documento. Devido ao tamanho, à forma e a outros fatores atributáveis a um sistema de varredura, pode não ser possível colocar o plano de referência de calibração no plano do documento, isto é, no vidro laminado. A diminuição da intensidade da lâmpada representa um efeito que ocorre quando da aproximação das extremidades da lâmpada, sendo assim diminuída a energia de luz. A diferença de perfil entre o plano de calibração e o plano do documento em um sistema não-coplanar pode ser corrigida em uma base de elemento de imagem por elemento de imagem. A diminuição da intensidade da iluminação devido à mudança na distância a partir do plano de calibração para o plano do documento representa o efeito principal que tem que ser corrigido. Também, o vidro laminado tem que ser levado em consideração. Um único fator de correção de calibração pode ser aplicado a cada elemento CCD (dispositivo acoplado por carga) em um sistema de varredura para considerar o deslocamento do plano de calibração para o plano do documento. Ou pode ser usado um único fator de correção de calibração de parâmetro único compreendido do deslocamento médio de perfil e do deslocamento de iluminação.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

05/02/2013

RPI 2196

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

18/09/2012

RPI 2176

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

16/08/2011

RPI 2119

Publicação do pedido de patente

#3.1

31/07/2001

RPI 1595

Pedido de patente depositado

#2.1

19/12/2000

RPI 1563

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