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Dado oficial do INPI

CONJUNTO DE FURAÇÕES DAS JANELAS E PORTAS INTEGRADAS MULTI-MARCAS

ArquivadaModelo de Utilidade

Dados do pedido

Número

MU8401975

Tipo

Modelo de Utilidade

Depósito

11/08/2004

Publicação

28/03/2006

Andamento no INPI

  1. Depósito11/08/04
  2. Publicação28/03/06
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 11/08/2004, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 28/10/2008. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Matriztec Industria e Comercio de Matrizes Ltda Me

SC, BR

Inventores

E. U. (pessoa física)

BR

M. C. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

"CONJUNTO DE FURAÇÕES DAS JANELAS E PORTAS INTEGRADAS MULTI-MARCAS". Que tem por objetivo executar em uma única matriz todas as furações apenas com a troca de porta-punções, sendo que podem variar de O a 12 porta-punções que são distribuídos em pares de dois com os gabaritos separadores. É uma matriz em aço que pode variar de espessura, comprimento e largura, que possui uma base com furos determinados de acordo com as furações estabelecidas em catálogos técnicos das diferentes linhas de perfis de portas e janelas das linhas integradas multimarcas (perfis de aluminio), que possui, em uma única base, as furações direita e esquerda das tampas laterais dos marcos laterais, trilhos superiores e inferiores das janelas e portas das integradas multimarcas (perfis de aluminio). Executa um conjunto de porta-punções que pode variar de 0 a 12 porta-punções para 4 linhas de perfis.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

28/10/2008

RPI 1973

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

29/07/2008

RPI 1960

Publicação do pedido de patente

#3.1

28/03/2006

RPI 1838

Pedido de patente depositado

#2.1

09/11/2004

RPI 1766

Monitoramento de patentes

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