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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO ÓPTICO-ELETRÔNICO PARA MEDIÇÃO DE TENSÕES EM ESTRUTURAS MECÂNICAS

ArquivadaModelo de Utilidade

Dados do pedido

Número

MU8202633

Tipo

Modelo de Utilidade

Depósito

25/11/2002

Publicação

29/06/2004

Andamento no INPI

  1. Depósito25/11/02
  2. Publicação29/06/04
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 25/11/2002, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 26/12/2006. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

A. J. (pessoa física)

SC, BR

D. W. (pessoa física)

SC, BR

Inventores

A. J. (pessoa física)

BR

C. K. (pessoa física)

BR

D. W. (pessoa física)

BR

J. M. (pessoa física)

BR

M. P. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

"DISPOSITIVO ÓPTICO-ELETRÔNICO PARA MEDIÇÃO DE TENSÕES EM ESTRUTURAS MECÂNICAS". Refere-se a um dispositivo óptico/eletrônico, a ser utilizado em conjunto com um programa de computador, para a medição e caracterização do estado de tensões em componentes e estruturas mecânicas nas condições de serviço; medições estáticas ou quase estáticas. O dispositivo captura as imagens da região de medição, calcula e caracteriza o estado de tensões da região medida; usa o interferômetro radial(1). composto de dois espelhos cônicos(12)(13),para a medição de um campo de tensões de maneira análoga a uma roseta extensométrica. O interferômetro radial(1), permite a medição de deformações e tensões com holografia eletrônica a partir de uma única condição de iluminação. Possui interligado entre si, os subsistemas: Unidade de Processamento de sinais UP(5); Interface de Alimentação e Controle IAC(6); Subsistema de Fixação e Posicionamento SFP(7); Subsistema de Deslocamento de Fase SDF(8). Subsistema de Iluminação SI(9); Subsistema de Visualização de Imagens SVI(10).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

26/12/2006

RPI 1877

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

12/09/2006

RPI 1862

Publicação do pedido de patente

#3.1

29/06/2004

RPI 1747

Pedido de patente depositado

#2.1

21/01/2003

RPI 1672

Monitoramento de patentes

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