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Dado oficial do INPI

APARELHO PORTÁTIL PARA MEDIÇÃO DE TENSÕES MECÂNICAS EM MATERIAIS POLICRISTALINOS POR MEIO DA DIFRATOME-TRIA DE RAIOS-X

Arquivada/ExtintaModelo de Utilidade

Dados do pedido

Número

MU7402493

Tipo

Modelo de Utilidade

Depósito

01/11/1994

Publicação

24/12/1996

Andamento no INPI

  1. Depósito01/11/94
  2. Publicação24/12/96
  3. Exame
  4. Deferimento08/04/03
  5. Concessão30/09/03
  6. Expirado16/07/13

Carta-patente expirada em 16/07/2013: o prazo de proteção chegou ao fim. A tecnologia está em domínio público e pode ser explorada livremente no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 16/07/2013. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Fundação Coppetec

RJ, BR

S. I. (pessoa física)

RJ, BR

Tai-Engenharia Comércio e Indústria Ltda.

RJ, BR

Inventores

S. I. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

Patente de Invenção "APARELHO PORTÁTIL PARA MEDIÇÃO DE TENSÕES MECÂNICAS EM MATERIAIS POLICRISTALINOS POR MEIO DA DIFRATOMETRIA DE RAIOS-X". É apresentado um aparelho (1), do tipo portátil, para medição de tensões mecânicas em materiais de estrutura policristalina, por meio do método da difratometria de raios-X, o qual é leve, pois reúne em um mesmo bloco o tubo de raios-X (2) e a fonte de alta tensão (3). O aparelho (1) da presente invenção apresenta também um tubo original de raios-X (2), o qual permite eliminar a utilização de um goniômetro, tornando o aparelho mais compacto. A construção do aparelho (1) para medição de tensões mecânicas da presente invenção prevê o cumprimento de condições ótimas de ótica de raios-X, difratados, permitindo-se assim uma maior precisão na determinação da deformação. Assim, uma maior precisão de medição das tensões é conseguida por meio de um esquema otimizado de raios-X do aparelho (1) da presente invenção que garante uma focalização ótima dos feixes difratados. O aparelho (1) para medição de tensões mecânicas da presente invenção apresenta ainda uma configuração especial do dispositivo climador (5) e do registrador de feixes de raios-X (5a) que evita a propagação dos feixes espalhados, impedindo a exposição do operador à radiação ionizante.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Carta-patente expirada

#21.1

Patente extinta em 30/09/2010

16/07/2013

RPI 2219

Concessão da patente

#16.1

30/09/2003

RPI 1708

Deferimento

#9.1

08/04/2003

RPI 1683

15.10

Mudada a Natureza do Pedido de PI 9404312-4 para MU 7402493-0

11/03/2003

RPI 1679

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

02/07/2002

RPI 1643

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

13/02/2002

RPI 1623

Publicação do pedido de patente

#3.1

24/12/1996

RPI 1360

Pedido de patente depositado

#2.1

10/01/1995

RPI 1258

Monitoramento de patentes

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