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Dado oficial do INPI

UTILIZAÇÃO DE SUBPRODUTO DE INDÚSTRIAS DE FERTILIZANTES FOSFATADOS EM LIXIVAÇÃO DE METAIS EM PLACAS DE CIRCUITO IMPRESSO

IndeferidaModelo de UtilidadeDocumento oficial disponível

Dados do pedido

Número

202017009881

Tipo

Modelo de Utilidade

Depósito

11/05/2017

Publicação

04/12/2018

Carta-patente disponível

Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.

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Andamento no INPI

  1. Depósito11/05/17
  2. Publicação04/12/18
  3. Exame
  4. Indeferido11/10/22
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido em 11/10/2022 e o recurso não mudou a decisão. A invenção não chegou a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 11/10/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

U. M. (pessoa física)

MG, BR

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Inventores

F. L. (pessoa física)

BR

G. M. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Resumo técnico

É divulgado o desenvolvimento de um processo de extração de cobre de placas de circuito impresso (PCI), com uma solução de lixiviamento contendo, além do peróxido de hidrogênio (H2O2) e ácido sulfúrico (H2SO4), o ácido fluossilícico (H2SiF6), um subproduto da indústria de fertilizantes fosfatados. As PCIs são inicialmente submetidas a um pré-tratamento para retirada de componentes eletrônicos e redução de volume. A lixiviação de cobre é então realizada utilizando 5 gramas de placas de circuito impresso de celulares, em 4h de tratamento à 25°C, utilizando 12,5 ml de H2SiF6, 2,5ml de H2SO4 e 35 ml de H2O2 na composição da solução. A recuperação eletroquímica do cobre é obtida em 30 min, 0,25 mol L-1 de sulfato de sódio (Na2SO4) e 2,5 A. As análises de Difração de Raio X do material recuperado apresentaram um difratograma com picos correspondentes a óxidos de cobre (Cu2O) de acordo com a ficha cristalográfica JCPDS 78-2076. Através da técnica de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), observou-se dois materiais com morfologias distintas. Através da Análise por Energia Dispersiva de Raio X (EDX), verificou-se que na composição elementar do material estruturado encontra-se uma porcentagem maior de cobre (94,55%) do que no particulado (77,44%).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Indeferimento mantido em recurso

#9.2.4

MANTIDO O INDEFERIMENTO UMA VEZ QUE NÃO FOI APRESENTADO RECURSO DENTRO DO PRAZO LEGAL

11/10/2022

RPI 2701

Indeferimento

#9.2

12/07/2022

RPI 2688

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

15/03/2022

RPI 2671

Publicação do pedido de patente

#3.1

04/12/2018

RPI 2500

Pedido de patente depositado

#2.1

08/08/2017

RPI 2431

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

13/06/2017

RPI 2423

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870170031081' em 11/05/2017 11:09 (WB)

23/05/2017

RPI 2420

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