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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA), E, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE UM DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA)

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2024024572

Dados do pedido

Patente de Invenção DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA), E, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE UM DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA) — IPC B82Y 10/00
Patente de Invenção DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA), E, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE UM DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA) — IPC B82Y 10/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112025022813

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/04/2024

Publicação

29/09/2026

PCT

US2024024572

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito15/04/24
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 15/04/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:15/04/2027(faltam 179 dias)

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 29/09/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Q. I. (pessoa física)

US

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

P. F. (pessoa física)

US

S. N. (pessoa física)

US

Y. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

18/313,060 · 05/05/2023

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA), E, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE UM DISPOSITIVO DE TRANSISTOR DE EFEITO DE CAMPO (FET) DE PORTA CIRCUNDANTE (GAA). São divulgados uma região de extensão de formato aprimorado para dispositivos de transistor de efeito de campo (FET) de porta circundante (GAA) e métodos de fabricação relacionados. O dispositivo GAA FET inclui uma região de extensão de material semicondutor acoplada a partir do respectivo canal à região de fonte/dreno para facilitar a formação de um canal condutor entre as regiões de fonte e de dreno quando o dispositivo GAA FET é ativado. A área da região de extensão entre as regiões de fonte/dreno e o canal forma uma resistência em série entre as regiões de fonte/dreno e o canal. Para reduzir a resistência parasitária de canal, a região de extensão do dispositivo GAA FET tem uma porção de extensão aprimorada que tem uma altura estendida ortogonal à direção do canal. A região de extensão com sua porção de extensão aprimorada tem uma resistência reduzida em comparação com uma região de extensão que não contém a porção de extensão aprimorada, reduzindo, assim, a resistência parasitária de canal do dispositivo GAA FET para um desempenho melhorado. Adicionalmente, são revelados dispositivo de transistor de efeito de campo (FET) de porta circundante (GAA), e, método de fabricação de um dispositivo de transistor de efeito de campo (FET) de porta circundante (GAA) relacionados.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

29/09/2026

RPI 2908

Alteração de dados cadastrais

#1.1

04/11/2025

RPI 2861

Monitoramento de patentes

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