Patente de Invenção MÉTODO E DISPOSITIVO PARA CARACTERIZAÇÃO TERMOGRÁFICA E TOPOGRÁFICA DE INOMOGENEIDADES NA ESTRUTURA DE CAMADAS DE SUBSTRATOS REVESTIDOS de ORONTEC GMBH & CO. KG — IPC G01N 25/72. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
MÉTODO E DISPOSITIVO PARA CARACTERIZAÇÃO TERMOGRÁFICA E TOPOGRÁFICA DE INOMOGENEIDADES NA ESTRUTURA DE CAMADAS DE SUBSTRATOS REVESTIDOS. A presente invenção refere-se a um método e a um disposi-tivo para a caracterização termográfica da superfície (2) de uma peça de trabalho particularmente revestida (1), em que um termograma é criado a partir de uma ou mais primeiras seções de superfície (3, 4) da superfície (2) e uma imagem é criada a partir de uma ou mais segun-das seções de superfície iluminadas da superfície (2), em que pelo menos algumas das uma ou mais primeira e segunda seções de su-perfície (3, 4) se estendem sobre uma área comum da superfície (2). A fim de fornecer informações adicionais para a caracterização, em particular para a caracterização topográfica, de não inomogeneidades na estrutura de camadas de substratos metálicos revestidos, a invenção propõe, que, além da extensão espacial de uma inomogeneidade na estrutura da camada determinada pelo termograma, um perfil de altura da superfície (2) também é determinado. Para tanto, a área iluminada da superfície (2), a partir da qual um termograma e uma imagem são criados, é iluminada de tal forma que a imagem forneça um perfil de altura da superfície (2).
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
