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Dado oficial do INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIR CARACTERÍSTICAS DA SUPERFÍCIE NA PELE

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2024017955

Dados do pedido

Patente de Invenção SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIR CARACTERÍSTICAS DA  SUPERFÍCIE NA PELE de THE GILLETTE COMPANY LLC — IPC G06T 7/593
Patente de Invenção SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIR CARACTERÍSTICAS DA SUPERFÍCIE NA PELE de THE GILLETTE COMPANY LLC — IPC G06T 7/593. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112025018654

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

01/03/2024

Publicação

21/07/2026

PCT

US2024017955

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito01/03/24
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 01/03/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:01/03/2027(faltam 189 dias)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 21/07/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

THE GILLETTE COMPANY LLC

US

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

A. P. (pessoa física)

GB

B. P. (pessoa física)

GB

C. D. (pessoa física)

GB

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

63/449,495 · 02/03/2023

Resumo técnico

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIR CARACTERÍSTICAS DA SUPERFÍCIE NA PELE. Um sistema e método são fornecidos para coletar dados de imagem de uma característica de superfície. O sistema inclui câmeras e elementos ópticos configurados para receber luz de uma área de uma superfície com um ou mais recursos e para direcionar a luz para as câmeras. O sistema inclui também um processador acoplado comunicativamente com as câmeras. Uma memória do processador inclui uma sequência de instruções para fazer com que o sistema determine dados de calibração 3D das câmeras; receba automaticamente dados de imagem da área em foco a partir das câmeras ao longo de uma pluralidade de quadros; e determine automaticamente uma imagem de bitmap 3D para cada quadro com base nos dados de imagem para cada quadro. Os dados de calibração 3D e as imagens de bitmap 3D são armazenados na memória do processador. Um método usa os dados de calibração 3D e imagens de bitmap 3D para medir um ou mais parâmetros do recurso de superfície.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

21/07/2026

RPI 2898

Alteração de dados cadastrais

#1.1

09/09/2025

RPI 2853

Monitoramento de patentes

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