Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
23/06/2026
RPI 2894
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Dado oficial do INPI
ESPECTROSCOPIA RAMAN EM ALTA TEMPERATURA IN SITU POR MEIO DE SONDA RAMAN DE FIBRA ÓPTICA REMOTA
Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2024016496
Dados do pedido
Número
112025017743Tipo
Patente de Invenção
Depósito
20/02/2024
Publicação
23/06/2026
PCT
US2024016496 Andamento no INPI
Exame ainda não requerido- Depósito20/02/24
- Publicação
- Exame
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 20/02/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).
Prazo para requerer o exame:20/02/2027(faltam 180 dias)
Última movimentação publicada pelo INPI: 23/06/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
THE CURATORS OF THE UNIVERSITY OF MISSOURI
US
Inventores
B. Z. (pessoa física)
US
H. T. (pessoa física)
US
J. H. (pessoa física)
US
R. O. (pessoa física)
US
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
63/447,594 · 22/02/2023
Resumo técnico
A presente invenção refere-se a um sistema de sensor de fibra óptica para espectroscopia Raman em alta temperatura in situ. O sistema inclui uma fonte de excitação, um espectrômetro e uma sonda Raman. A sonda Raman compreende pelo menos uma fibra óptica acoplada à fonte de excitação e ao espectrômetro. A pelo menos uma fibra óptica transmite a excitação do laser proveniente da fonte de excitação para uma amostra e coleta a luz dispersa pela amostra para análise pelo espectrômetro. Um conjunto de lentes externas posicionado em uma extremidade distal da pelo menos uma fibra óptica da sonda Raman acopla opticamente a pelo menos uma fibra óptica à amostra e separa fisicamente a pelo menos uma fibra óptica da amostra durante a amostragem. O espectrômetro realiza a espectroscopia Raman da amostra com base na luz coletada pela pelo menos uma fibra óptica.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Alteração de dados cadastrais
#1.1
09/09/2025
RPI 2853
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