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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE IMAGEM POR TC COM VARREDURA LINEAR

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · CN2024126811

Dados do pedido

Patente de Invenção SISTEMA DE IMAGEM POR TC COM VARREDURA LINEAR de NUCTECH COMPANY LIMITED — IPC G01V 5/00
Patente de Invenção SISTEMA DE IMAGEM POR TC COM VARREDURA LINEAR de NUCTECH COMPANY LIMITED — IPC G01V 5/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112025013397

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/10/2024

Publicação

16/06/2026

PCT

CN2024126811

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito23/10/24
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 23/10/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:23/10/2027(faltam 364 dias)

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 16/06/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

NUCTECH COMPANY LIMITED

CN

T. U. (pessoa física)

CN

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

J. L. (pessoa física)

CN

L. S. (pessoa física)

CN

L. Z. (pessoa física)

CN

Q. H. (pessoa física)

CN

T. Z. (pessoa física)

CN

W. L. (pessoa física)

CN

Y. S. (pessoa física)

CN

Z. C. (pessoa física)

CN

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

CN

202311490080.9 · 09/11/2023

Resumo técnico

SISTEMA DE IMAGEM POR TC COM VARREDURA LINEAR. Incluindo: um dispositivo de transporte (3) usado para mover um objeto escaneado (30) em uma direção de transporte predeterminada (D3) em um canal de varredura (4); fontes de raios (1) usadas para emitir alternadamente feixes de raios a fim de formar uma região de varredura; detectores (2), incluindo um primeiro detector (21) usado para detectar primeiros dados de projeção formados pelos feixes de raios transmitidos através do objeto escaneado (30) durante o processo de passagem do objeto escaneado (30) pela região de varredura, e um segundo detector (22) usado para detectar segundos dados de projeção formados pelos feixes de raios transmitidos através do objeto escaneado (30) durante o processo de passagem do objeto escaneado (30) pela região de varredura; e um dispositivo de imagem (5) usado para: gerar uma imagem radiográfica digital do objeto escaneado (30) com base nos segundos dados de projeção, e obter uma imagem de tomografia computadorizada do objeto escaneado (30) com base nos primeiros dados de projeção e nos segundos dados de projeção. Um método de imagem por TC com varredura linear também é fornecido.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

16/06/2026

RPI 2893

Exigências diversas

#1.5

Apresentar nova folha de resumo do pedido, conforme Art. 40, I, da Portaria INPI 14/2024 (título separado do resumo em si). A exigência deve ser respondida em até 60 (sessenta) dias, por meio de petição código GRU 207.

19/05/2026

RPI 2889

Alteração de dados cadastrais

#1.1

08/07/2025

RPI 2844

Monitoramento de patentes

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