Patente de Invenção MÉTODO E APARELHO DE SUPORTE DE COLETA DE MEDIÇÃO DE QUALIDADE DE EXPERIÊNCIA (QOE) de LENOVO (BEIJING) LIMITED — IPC G06Q 30/02. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
MÉTODO E APARELHO DE SUPORTE DE COLETA DE MEDIÇÃO DE QUALIDADE DE EXPERIÊNCIA (QoE). As modalidades do presente pedido referem-se a um método e aparelho de suporte de coleta de medição de qualidade de experiência (QoE). Um método exemplar pode incluir: receber a primeira informação de configuração de QoE de um primeiro nó RAN; receber a segunda informação de configuração de QoE de um segundo nó RAN; e transmitir informação de indicação de duplicação para pelo menos um do primeiro nó RAN ou o segundo nó RAN em resposta ao fato de que a primeira informação de configuração de QoE e a segunda informação de configuração de QoE estão associadas a uma mesma medição de QoE, em que a informação de indicação de duplicação indica que pelo menos uma da primeira informação de configuração de QoE ou a segunda informação de configuração de QoE é ignorada devido à primeira e à segunda informação de configuração de QoE serem duplicadas.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
