Patente de Invenção DISPOSITIVO DE AMOSTRAGEM, SISTEMA, E, MÉTODO de BIRLA CARBON U.S.A., INC. — IPC C09C 1/48. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
DISPOSITIVO DE AMOSTRAGEM, SISTEMA, E, MÉTODO. Um dispositivo de amostragem compreendendo: um corpo que define um espaço de recebimento de amostra; uma porta de coleta de amostra em comunicação com o espaço de recebimento de amostra; uma superfície de suporte de amostra posicionada dentro do espaço de recebimento de amostra; e um sistema de alinhamento e detecção óptica, em que a porta de coleta de amostra é configurada para receber uma amostra de uma corrente de material e permitir a entrega da amostra à superfície de suporte de amostra dentro do espaço de recebimento de amostra, e em que o microscópio Raman confocal é configurado para medir propriedades da amostra quando a amostra for apoiada na superfície de suporte de amostra.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
