Patente de Invenção SUBSTRATO PARA DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO, DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO E MÉTODO PARA FABRICAR DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO — IPC C12Q 1/68. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
SUBSTRATO PARA DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO, DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO E MÉTODO PARA FABRICAR DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO. É fornecido um substrato para um dispositivo de inspeção. O substrato tem uma espessura média de 250 µm ou maior e 350 µm ou menor, e uma densidade de 0,25 × 106 g/m3 ou maior e 0,40 × 106 g/m3 ou menor.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
