Patente de Invenção SUBSTRATO PARA ANÁLISE ESPECTROSCÓPICA INCLUINDO ESTRUTURAS POLICRISTALINAS E SEU MÉTODO DE FABRICAÇÃO de KOREA INSTITUTE OF MATERIALS SCIENCE — IPC B82Y 15/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
SUBSTRATO PARA ANÁLISE ESPECTROSCÓPICA INCLUINDO ESTRUTURAS POLICRISTALINAS E SEU MÉTODO DE FABRICAÇÃO. A presente invenção fornece um substrato para análise espectroscópica compreendendo uma estrutura policristalina e um método de preparação do mesmo. Mais especificamente, a presente invenção fornece um substrato para análise espectroscópica com base em materiais universais compreendendo uma estrutura policristalina com intensidade de sinal e uniformidade de sinal aprimoradas ao compreender uma estrutura policristalina, e um método de preparação de um substrato para análise espectroscópica compreendendo uma estrutura policristalina cuja forma é controlada por um processo simples na superfície de vários materiais.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
