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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE MEDIÇÃO DE ALCANCE E APARELHO RELACIONADO

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · CN2022095359

Dados do pedido

Número

112024024161

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

26/05/2022

Publicação

06/03/2025

PCT

CN2022095359

Andamento no INPI

  1. Depósito26/05/22
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 26/05/2022. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 06/03/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.

CN

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Inventores

D. L. (pessoa física)

CN

L. G. (pessoa física)

CN

X. C. (pessoa física)

CN

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

MÉTODO DE MEDIÇÃO DE ALCANCE E APARELHO RELACIONADO. Este pedido se refere a um método de medição de alcance e a um aparelho relacionado, e está relacionado ao campo de tecnologias de comunicação. O método inclui: um primeiro dispositivo envia um primeiro quadro de medição para um segundo dispositivo em uma primeira frequência (S301), e recebe, na primeira frequência, um segundo quadro de medição enviado pelo segundo dispositivo (S302); o primeiro dispositivo envia um terceiro quadro de medição para o segundo dispositivo em uma segunda frequência (S303), e recebe, na segunda frequência, um quarto quadro de medição enviado pelo segundo dispositivo (S304), em que a segunda frequência é diferente da primeira frequência; e o primeiro dispositivo obtém um primeiro resultado de medição com base no segundo quadro de medição (S305); o primeiro dispositivo obtém um terceiro resultado de medição com base no quarto quadro de medição (S306); e o primeiro dispositivo envia o primeiro resultado de medição e o terceiro resultado de medição para um terceiro dispositivo (S307). Nesse método, um resultado de medição conjunta da primeira frequência e um resultado de medição conjunta da segunda frequência não são afetados por uma fase inicial aleatória causada pela comutação de frequência de um dispositivo e podem ser combinados de forma coerente, de modo que uma largura de banda maior que uma largura de banda de um quadro de medição de uma única frequência pode ser usada para calcular um resultado de medição de alcance, e precisão de medição de alcance é aprimorada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/03/2025

RPI 2826

Alteração de dados cadastrais

#1.1

03/12/2024

RPI 2813

Monitoramento de patentes

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