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Dado oficial do INPI

MÉTODOS PARA PROJETAR E PARA PRODUZIR UMA LENTE DE ÓCULOS, LENTE DE ÓCULOS, E, PAR DE ÓCULOS

Em ExigênciaPatente de InvençãoPCT · JP2023026353

Dados do pedido

Número

112024023988

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

19/07/2023

Publicação

06/03/2025

PCT

JP2023026353

Andamento no INPI

Parecer técnico a responder
  1. Depósito19/07/23
  2. Publicação06/03/25
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

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Depositantes e inventores

Depositantes

HOYA LENS THAILAND LTD.

TH

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Inventores

S. T. (pessoa física)

JP

S. M. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2022-114588 · 19/07/2022

Resumo técnico

MÉTODOS PARA PROJETAR E PARA PRODUZIR UMA LENTE DE ÓCULOS, LENTE DE ÓCULOS, E, PAR DE ÓCULOS. É provido um método para projetar uma lente de óculos e uma técnica relacionada O método para projetar uma lente de óculos inclui uma etapa de modelagem para preparar um modelo base, um modelo de descentralização e um modelo de inclinação como uma pluralidade de modelos que padronizam, como excentricidade, um estado que é desviado de um estado no qual uma lente de óculos está sendo usada corretamente, uma etapa de cálculo de sensibilidade para calcular a sensibilidade de descentralização e a sensibilidade de inclinação, e uma etapa de projeto para usar um valor de curva base próximo a uma solução de equilíbrio como a curva base de uma lente de óculos, a solução de equilíbrio sendo a interseção entre um gráfico de sensibilidade de descentralização e um gráfico de sensibilidade de inclinação quando o eixo geométrico x é um valor de curva base c que é o raio de curvatura de uma superfície do lado do objeto em uma região H que não inclui uma região de não convergência da retina e o eixo geométrico y é a sensibilidade de descentralização e a sensibilidade de inclinação.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

26/05/2026

RPI 2890

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/03/2025

RPI 2826

Alteração de dados cadastrais

#1.1

26/11/2024

RPI 2812

Monitoramento de patentes

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