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Dado oficial do INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA A OBTENÇÃO DE UMA AMOSTRA DE FLUIDO

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2023079855

Dados do pedido

Número

112024022977

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/11/2023

Publicação

09/06/2026

PCT

US2023079855

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito15/11/23
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 15/11/2026, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:15/11/2026(faltam 83 dias)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 09/06/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

STRATUM RESERVOIR (US) LLC

US

Inventores

G. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Resumo técnico

Um conjunto de válvula e um sistema de mandril para um aparelho de amostragem de gás. Em uma realização, o aparelho pode compreender um conjunto de válvula compreendendo uma primeira válvula de núcleo/central, em que um pino da primeira válvula de núcleo é desviado para uma primeira posição; um sistema de mandril compreendendo uma segunda válvula de núcleo, em que um pino da segunda válvula de núcleo é desviado para uma primeira posição fechada; e um tubo de transferência alojado no interior do sistema de mandril, em que o tubo de transferência proporciona os meios para o deslocamento dos pinos da primeira e da segunda válvulas de núcleo para uma segunda posição aberta; em que o tubo de transferência isola uma trajetória de comunicação fluida entre a primeira e a segunda válvulas de núcleo. Em uma realização alternativa, o sistema de mandril pode não compreender uma segunda válvula de núcleo, e o tubo de transferência pode isolar uma trajetória de comunicação fluida entre a primeira válvula de núcleo e o sistema de mandril.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/06/2026

RPI 2892

Alteração de dados cadastrais

#1.1

10/06/2025

RPI 2840

Monitoramento de patentes

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