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Dado oficial do INPI

ELEMENTO PARA SISTEMA DE MEDIÇÃO ÓPTICA

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · FR2022052395

Dados do pedido

Patente de Invenção ELEMENTO PARA SISTEMA DE MEDIÇÃO ÓPTICA de DIAGDEV — IPC G01N 15/14
Patente de Invenção ELEMENTO PARA SISTEMA DE MEDIÇÃO ÓPTICA de DIAGDEV — IPC G01N 15/14. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024012470

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

16/12/2022

Publicação

15/10/2024

PCT

FR2022052395

Andamento no INPI

  1. Depósito16/12/22
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 16/12/2022. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 15/10/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

DIAGDEV

FR

Inventores

B. M. (pessoa física)

FR

Dados técnicos

Prioridades unionistas

FR

FR2114011 · 20/12/2021

Resumo técnico

ELEMENTO PARA SISTEMA DE MEDIÇÃO ÓPTICA. A presente invenção refere-se a um elemento (2) para sistema de medição óptica compreendendo uma primeira coroa (4) que se estende circunferencialmente em torno de um eixo (X) e compreendendo pelo menos uma primeira lente óptica (11), e uma segunda coroa (5) localizada radialmente fora da primeira coroa (4) e circun-dando a primeira coroa (4) e compreendendo pelo menos uma segunda lente óptica (14), onde pelo menos uma primeira lente (11) está alinhada com pelo menos uma segunda lente (14), a primeira e a segunda coroa (4, 5) são feitas do mesmo material de modo a formar um elemento unitário (2).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

15/10/2024

RPI 2806

Alteração de dados cadastrais

#1.1

02/07/2024

RPI 2791

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