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Dado oficial do INPI

MEMÓRIA COM VARREDURA DE ESTRESSE DE TENSÃO DINÂMICA EFICIENTE CONTROLADA POR ENTRADAS ASSÍNCRONAS

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2022046341

Dados do pedido

Patente de Invenção MEMÓRIA COM VARREDURA DE ESTRESSE DE TENSÃO DINÂMICA EFICIENTE CONTROLADA POR ENTRADAS ASSÍNCRONAS — IPC G11C 29/02
Patente de Invenção MEMÓRIA COM VARREDURA DE ESTRESSE DE TENSÃO DINÂMICA EFICIENTE CONTROLADA POR ENTRADAS ASSÍNCRONAS — IPC G11C 29/02. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024006970

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

11/10/2022

Publicação

23/07/2024

PCT

US2022046341

Andamento no INPI

  1. Depósito11/10/22
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 11/10/2022. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 23/07/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Q. I. (pessoa física)

US

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Inventores

C. J. (pessoa física)

US

P. R. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

S. G. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

17/517,386 · 02/11/2021

Resumo técnico

MEMÓRIA COM VARREDURA DE ESTRESSE DE TENSÃO DINÂMICA EFICIENTE CONTROLADA POR ENTRADAS ASSÍNCRONAS.É provida uma memória configurada para praticar um modo de repouso sem retenção, em que tanto um arranjo de células de bit quanto uma periferia de memória são desligados em resposta a uma afirmação do modo de repouso sem sinal de controle de retenção. O modo de repouso sem sinal de controle de retenção é também afirmado durante uma varredura de DVS para desligar o arranjo de células de bit. A memória inclui um circuito de gerenciamento de potência que responde a uma afirmação de um sinal de controle de varredura de DVS para impedir que a afirmação do modo de repouso sem sinal de controle de retenção cause um desligamento da periferia de memória durante a varredura de DVS. A periferia de memória pode, dessa forma, ser completamente testada pela varredura de DVS devido ao fato de que a corrente de vazamento do arranjo de células de bit é impedida pelo desligamento do arranjo de células de bit.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

23/07/2024

RPI 2794

Alteração de dados cadastrais

#1.1

24/04/2024

RPI 2781

Monitoramento de patentes

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