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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS

Em ExigênciaPatente de InvençãoPCT · JP2023003596

Dados do pedido

Patente de Invenção DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS de OMRON HEALTHCARE CO., LTD. — IPC G01N 27/26
Patente de Invenção DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS de OMRON HEALTHCARE CO., LTD. — IPC G01N 27/26. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024002727

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

03/02/2023

Publicação

14/05/2024

PCT

JP2023003596

Andamento no INPI

Parecer técnico a responder
  1. Depósito03/02/23
  2. Publicação14/05/24
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O INPI emitiu parecer técnico sobre a patenteabilidade. O depositante tem de se manifestar para o exame prosseguir.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 18/02/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

OMRON HEALTHCARE CO., LTD.

JP

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Inventores

H. Y. (pessoa física)

JP

K. K. (pessoa física)

JP

M. M. (pessoa física)

JP

S. F. (pessoa física)

JP

T. K. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Prioridades unionistas

JP

2022-024118 · 18/02/2022

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS, E, MÉTODO DE ANÁLISE DE ELETRÓLITOS. Este dispositivo de análise de solução eletrolítica compreende: um substrato (31) que se estende em uma direção; camadas de eletrodos principais (43, 44) que são fornecidas em uma superfície principal do substrato (31) e que incluem uma peça de base principal e uma peça de extensão principal; um filme de seleção de íons colocado em contato com a peça de base principal de modo a cobrir a peça de base principal; e uma camada de eletrodo auxiliar (48) que é fornecida na superfície principal do substrato (31) e que inclui uma peça de base auxiliar (46) e uma peça de extensão auxiliar. Em um estado no qual uma solução eletrolítica é colocada em contato de modo a cobrir o lado de uma extremidade (31e) do substrato (31), uma unidade determinante de separação (11, 14) adquire o potencial da peça de base principal através da peça de extensão principal, e adquire o potencial da peça de base auxiliar (46) através da peça de extensão auxiliar. É feita uma determinação, com base na diferença de potencial entre o potencial da peça de base principal e o potencial da peça de base auxiliar que foi adquirida, se o filme de seleção de íons se separou da peça de base principal.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

18/02/2026

RPI 2876

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

14/05/2024

RPI 2784

Alteração de dados cadastrais

#1.1

20/02/2024

RPI 2772

Monitoramento de patentes

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