Patente de Invenção MEMÓRIA E MÉTODO PARA TESTAR UMA COLUNA EM UMA MEMÓRIA — IPC G11C 29/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
MEMÓRIA COM TESTE DE CADEIA DE VARREDURA DE LÓGICA DE REDUNDÂNCIA DE COLUNA E MULTIPLEXAÇÃO. A presente invenção refere-se a uma memória na qual uma cadeia de varredura cobre a lógica de redundância para redundância de coluna, bem como os multiplexadores de redundância em cada coluna. A lógica de redundância inclui uma pluralidade de circuitos lógicos de redundância dispostos em série. Cada circuito lógico de redundância corresponde a uma respectiva coluna na memória. Cada coluna é configurada para rotear um sinal de deslocamento através de seus multiplexadores de redundância durante um modo de operação de varredura.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Petição de recurso
#12.2
Recurso: Petição 870260014370, de 13/02/2026
24/02/2026
RPI 2877
Indeferimento
#9.2
06/01/2026
RPI 2870
Conhecimento de parecer técnico
#7.1
07/10/2025
RPI 2857
28.30
Concedido o trâmite prioritário requerido através da petição nº 870250069050, de 05/08/2025, haja vista que atende ao disposto nos artigos 3º, 4º e 5º da Portaria/INPI/PR nº 48, de 29/11/2024, publicada na RPI 2814, de 10/12/2024.
19/08/2025
RPI 2850
28.10.32
Notificação de requerimento de trâmite prioritário de PPH, conforme protocolo n° 870250069050, de 05/08/2025.
