Patente de Invenção DISPOSITIVO PARA MONITORIZAÇÃO EM LINHA DAS VARIAÇÕES DA MICROESTRUTURA À TEMPERATURA AMBIENTE de NV BEKAERT SA — IPC G01N 27/80. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
DISPOSITIVO PARA MONITORIZAÇÃO EM LINHA DAS VARIAÇÕES DA MICROESTRUTURA À TEMPERATURA AMBIENTE. Dispositivo (100) para o controle em linha das variações da microestrutura de um fio de aço processado termicamente a temperaturas inferiores a 100°C. O dispositivo (100) compreendendo: - um sensor magnético (102); - uma unidade de referência (104); - uma unidade de cálculo (106). o sensor magnético (102) está adaptado para ser posicionado em torno do fio de aço termicamente processado e inclui uma primeira bobina de indução (110) para gerar um sinal eletromagnético e uma segunda bobina de indução (112) para receber um sinal eletromagnético como valor medido no momento. A unidade de referência (104) contendo ou produzindo um conjunto de valores medidos de referência de amostras de fio de aço de referência processadas termicamente com microestrutura totalmente identificada à temperatura ambiente. A unidade de cálculo (106) é capaz de estabelecer uma diferença entre o valor atualmente medido e os valores medidos de referência, a fim de determinar o tipo e a amplitude do desvio da microestrutura do fio de aço de referência.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
