Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
03/10/2023
RPI 2752
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Dado oficial do INPI
AMOSTRAGEM COM BASE EM PONTOS-CHAVES PARA ESTIMAÇÃO DE POSE
Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2022013754
Dados do pedido
Número
112023018094Tipo
Patente de Invenção
Depósito
25/01/2022
Publicação
03/10/2023
PCT
US2022013754 Andamento no INPI
- Depósito25/01/22
- Publicação
- Exame
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 25/01/2022. Aguarda exame formal e publicação na RPI.
Última movimentação publicada pelo INPI: 03/10/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
QUALCOMM TECHNOLOGIES, INC.
US
Inventores
C. A. (pessoa física)
US
S. H. (pessoa física)
US
V. L. (pessoa física)
US
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
17/457,408 · 02/12/2021
US
63/162,305 · 17/03/2021
Resumo técnico
AMOSTRAGEM COM BASE EM PONTOS-CHAVES PARA ESTIMAÇÃO DE POSE.Sistemas e técnicas são fornecidos para determinar uma ou mais poses de um ou mais objetos. Por exemplo, um processo pode incluir determinar, com utilização de um sistema de aprendizado de máquina, uma pluralidade de pontos-chaves proveniente de uma imagem. A pluralidade de pontos-chaves está associada a pelo menos um objeto na imagem. O processo pode incluir determinar uma pluralidade de características do sistema de aprendizado de máquina com base na pluralidade de pontos-chaves. O processo pode incluir classificar a pluralidade de características em uma pluralidade de tipos de articulação. O processo pode incluir determinar parâmetros de pose para pelo menos um objeto com base na pluralidade de tipos de articulação.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Alteração de dados cadastrais
#1.1
19/09/2023
RPI 2750
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