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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO, MÉTODO E SISTEMA DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE, DISPOSITIVO DE SERVIDOR DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE, DISPOSITIVO DE TERMINAL DE EXIBIÇÃO E MEMÓRIAS LIDAS POR UM PROCESSADOR

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · JP2022007838

Dados do pedido

Número

112023017551

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

25/02/2022

Publicação

10/10/2023

PCT

JP2022007838

Andamento no INPI

  1. Depósito25/02/22
  2. Publicação10/10/23
  3. Exame
  4. Deferimento16/06/26
  5. Concessão07/07/26
  6. Em vigor25/02/42

Patente concedida em 07/07/2026 e em vigor até 25/02/2042. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:25/02/2042

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Depositantes e inventores

Depositantes

J. C. (pessoa física)

JP

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Inventores

H. S. (pessoa física)

JP

T. I. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2021-031414 · 01/03/2021

Resumo técnico

DISPOSITIVO, MÉTODO E SISTEMA DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE E MÉTODO DE OPERAÇÃO DE ALTO-FORNO, DISPOSITIVO DE SERVIDOR DE DETERMINAÇÃO DE ANORMALIDADE, DISPOSITIVO DE TERMINAL DE EXIBIÇÃO E MEMÓRIAS LIDAS POR UM COMPUTADOR. Um dispositivo de determinação de anormalidade de alto-forno de acordo com a presente invenção inclui: uma unidade de medição de distribuição de temperatura que mede uma distribuição de temperatura imediatamente acima de uma superfície de carregamento de matéria-prima em um alto-forno; uma unidade de análise de componente de gás que analisa um componente de um gás no alto-forno; uma unidade de acumulação de dados que acumula informações sobre a distribuição de temperatura medida pela unidade de medição de distribuição de temperatura e um resultado de análise da unidade de análise de componente de gás; uma unidade de cálculo de estatística de distribuição de temperatura que calcula uma estatística para determinar se a distribuição de temperatura medida pela unidade de medição de distribuição de temperatura é normal ou não com base em um resultado obtido ao realizar análise de componente principal nas informações da distribuição de temperatura do alto-forno em um estado normal acumulado na unidade de acumulação de dados; e uma unidade de determinação de anormalidade que determina se ocorreu ou não uma anormalidade no alto-forno ao avaliar a estatística calculada pela unidade de cálculo da estatística de distribuição de temperatura e o resultado de análise da unidade de análise de componente de gás em associação um com o outro.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 25/02/2022, observadas as condições legais

07/07/2026

RPI 2896

Deferimento

#9.1

16/06/2026

RPI 2893

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

10/02/2026

RPI 2875

Parecer de pré-exame

#6.23

24/06/2025

RPI 2842

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

10/10/2023

RPI 2753

Alteração de dados cadastrais

#1.1

12/09/2023

RPI 2749

Monitoramento de patentes

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