Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
29/08/2023
RPI 2747
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Dado oficial do INPI
MÉTODO PARA A INSPEÇÃO DE UMA LENTE OFTÁLMICA QUANTO A DEFEITOS SEMIOPACOS
Em AnálisePatente de InvençãoPCT · IB2022050648
Dados do pedido
Número
112023014625Tipo
Patente de Invenção
Depósito
25/01/2022
Publicação
29/08/2023
PCT
IB2022050648 Andamento no INPI
- Depósito25/01/22
- Publicação
- Exame
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 25/01/2022. Aguarda exame formal e publicação na RPI.
Última movimentação publicada pelo INPI: 29/08/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
ALCON INC.
CH
Inventores
S. K. (pessoa física)
DE
V. D. (pessoa física)
DE
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
63/141,544 · 26/01/2021
Resumo técnico
MÉTODO PARA A INSPEÇÃO DE UMA LENTE OFTÁLMICA QUANTO A DEFEITOS SEMIOPACOS.A presente invenção refere-se a um método para inspecionar uma lente oftálmica quanto à presença de um defeito semiopaco inaceitável em um corpo de lente da mesma que compreende as etapas de: iluminar o corpo de lente com luz laser em uma área delimitada por uma borda do corpo de lente; detectar a intensidade da luz laser dispersa pelo corpo de lente iluminada em uma direção de detecção predeterminada que é diferente de uma direção de reflexão; comparar a intensidade detectada da luz laser dispersa com a intensidade limiar predeterminada; determinar um tamanho de pelo menos uma área coerente na qual a intensidade detectada da luz laser dispersa é maior do que a intensidade limiar predeterminada; determinar se o tamanho da pelo menos uma área coerente é maior do que um tamanho limiar predeterminado e rejeitar a lente oftálmica no caso de o tamanho da pelo menos uma área coerente ser maior do que o tamanho limiar predeterminado.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Alteração de dados cadastrais
#1.1
01/08/2023
RPI 2743
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