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Dado oficial do INPI

SISTEMAS E MÉTODOS PARA REALIZAR ANÁLISE MICROSCÓPICA DE UMA AMOSTRA

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2021068661

Dados do pedido

Número

112023001071

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

06/07/2021

Publicação

04/04/2023

PCT

EP2021068661

Andamento no INPI

  1. Depósito06/07/21
  2. Publicação04/04/23
  3. Exame
  4. Deferimento21/01/25
  5. Concessão11/03/25
  6. Em vigor06/07/41

Patente concedida em 11/03/2025 e em vigor até 06/07/2041. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:06/07/2041

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Última movimentação publicada pelo INPI: 11/03/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

D. M. (pessoa física)

FR

Inventores

J. O. (pessoa física)

FR

O. L. (pessoa física)

FR

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

FR

FR2007700 · 22/07/2020

Resumo técnico

SISTEMAS E MÉTODOS PARA REALIZAR ANÁLISE MICROSCÓPICA DE UMA AMOSTRA. A presente descrição refere-se a um sistema (102) para realizar análise microscópica de uma amostra (S), compreendendo um canal de análise microscópica (140) e um canal de visada (150). O canal de análise microscópica compreende em particular: um canal de iluminação (120) configurado para iluminar um dado campo de visão da amostra através de uma objetiva de microscópio (110) de abertura numérica nominal dada; e um canal de detecção (130) que compreende dita objetiva de microscópio, e que é configurado para detectar, no dito campo de visão, e com um padrão de detecção, um feixe luminoso emitido pela amostra em resposta à dita iluminação da amostra. O canal de visada compreende: dita objetiva de microscópio; um dispositivo (158) para alcançar iluminação de campo completo da amostra; um detector bidimensional (155); e um ou mais elementos geradores de imagem formando, com dita objetiva de microscópio (110), um dispositivo de geração de imagem de campo completo configurado para formar uma imagem de visada em reflexão de superfície de um campo efetivo dado da amostra englobando dito campo de visão. O sistema (102) compreende adicionalmente um módulo de exibição (170) configurado para exibir uma imagem de visada e, na dita imagem de visada, um elemento de imagem indicando a posição do dito padrão de detecção.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 06/07/2021, observadas as condições legais

11/03/2025

RPI 2827

Deferimento

#9.1

21/01/2025

RPI 2820

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

08/10/2024

RPI 2805

28.30

Concedido o trâmite prioritário requerido através da petição nº 870240013935 de 20/02/2024, haja vista que atende ao disposto nos artigos 3º, 4º e 5º da Portaria INPI PR nº 78, de 16/12/22, publicada na RPI 2712, de 27/12/22.

25/06/2024

RPI 2790

28.10.32

Notificação de requerimento de trâmite prioritário de PPH, conforme protocolo n° 870240013935 de 20/02/2024.

18/06/2024

RPI 2789

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/04/2023

RPI 2726

Alteração de dados cadastrais

#1.1

31/01/2023

RPI 2717

Monitoramento de patentes

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