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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE DETECÇÃO DE FALHA PARA APARELHO DE COMUTAÇÃO ÓPTICA, DISPOSITIVO DE REDE, E SISTEMA

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · CN2021103947

Dados do pedido

Número

112023000549

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

01/07/2021

Publicação

31/01/2023

PCT

CN2021103947

Andamento no INPI

  1. Depósito01/07/21
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 01/07/2021. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 31/01/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.

CN

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Inventores

F. A. (pessoa física)

CN

Y. L. (pessoa física)

CN

Z. C. (pessoa física)

CN

Dados técnicos

Prioridades unionistas

CN

202010692070.3 · 17/07/2020

Resumo técnico

MÉTODO DE DETECÇÃO DE FALHA PARA APARELHO DE COMUTAÇÃO ÓPTICA, DISPOSITIVO DE REDE, E SISTEMA. A presente invenção refere-se a método de detecção de falha para aparelho de comutação óptica, e a dispositivo de rede, e a sistema, os quais são utilizados para aperfeiçoar a precisão e eficiência de detectar se um aparelho de comutação óptica tem um defeito. O método compreende: enviar um sinal óptico de detecção para um percurso alvo, em que o sinal óptico de detecção é utilizado para transmissão ao longo do percurso alvo, e o percurso alvo compreende pelo menos um aparelho de comutação óptica; receber uma pluralidade de sinais ópticos refletidos do percurso alvo, em que a pluralidade de sinais ópticos refletidos é formada por meio do percurso alvo refletindo o sinal óptico de detecção; determinar um sinal óptico refletido alvo dentre a pluralidade de sinais ópticos refletidos, em que o sinal óptico refletido alvo é um sinal óptico refletido, refletido pelo aparelho de comutação óptica; e determinar, de acordo com o sinal óptico refletido alvo, se o aparelho de comutação óptica tem um defeito.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

31/01/2023

RPI 2717

Alteração de dados cadastrais

#1.1

24/01/2023

RPI 2716

Monitoramento de patentes

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