Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
02/07/2024
RPI 2791
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Dado oficial do INPI
SISTEMA DE ESCANEAMENTO E CALIBRAÇÃO DO MESMO
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · EP2021059045
Dados do pedido
Número
112022019080Tipo
Patente de Invenção
Depósito
07/04/2021
Publicação
08/11/2022
PCT
EP2021059045 Andamento no INPI
- Depósito07/04/21
- Publicação08/11/22
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 07/04/2021, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 02/07/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
3SHAPE A/S
DK
Inventores
A. G. (pessoa física)
DK
J. B. (pessoa física)
DK
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
EP
20168498.2 · 07/04/2020
Resumo técnico
SISTEMA DE ESCANEAMENTO E CALIBRAÇÃO DO MESMO. A presente invenção refere-se a um sistema de escaneamento não calibrado a ser modificado para um sistema de escaneamento calibrado com base na geração de uma representação tridimensional de um objeto de calibração tridimensional.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
16/04/2024
RPI 2780
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
08/11/2022
RPI 2705
Alteração de dados cadastrais
#1.1
04/10/2022
RPI 2700
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