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Dado oficial do INPI

EFICIÊNCIA DE COLETA DE EMISSÃO AUMENTADA EM DISPOSITIVOS ÓPTICOS INTEGRADOS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2020045101

Dados do pedido

Número

112022002048

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

06/08/2020

Publicação

07/06/2022

PCT

US2020045101

Andamento no INPI

  1. Depósito06/08/20
  2. Publicação07/06/22
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 06/08/2020, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 14/11/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Q. I. (pessoa física)

US

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Inventores

A. K. (pessoa física)

US

B. S. (pessoa física)

US

G. S. (pessoa física)

US

J. B. (pessoa física)

US

K. P. (pessoa física)

US

S. H. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

62/884,395 · 08/08/2019

Resumo técnico

EFICIÊNCIA DE COLETA DE EMISSÃO AUMENTADA EM DISPOSITIVOS ÓPTICOS INTEGRADOS.A presente invenção refere-se a aparelho e métodos para melhorar a coleta de sinal óptico em um dispositivo integrado que são descritos. Um microdisco (1-605) pode ser formado em um dispositivo integrado e aumentar a coleta e/ou concentração de radiação incidente no microdisco (1-605) e irradiada de novo pelo microdisco (1-605). Um exemplo de dispositivo integrado que pode incluir um microdisco (1-605) pode ser usado para detecção e/ou análise de analito. Tal dispositivo integrado pode incluir uma pluralidade de pixels, cada um tendo uma câmara de reação (1-130) para receber uma amostra a ser analisada, um microdisco óptico (1-605) e um sensor óptico (1-122) configurado para detectar a emissão óptica da câmara de reação (1-130). O microdisco (1-605) pode compreender um material dielétrico com um primeiro índice de refração que está embutido em um ou mais materiais circundantes (1-610) com um ou mais valores de índice de refração diferentes.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

14/11/2023

RPI 2758

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

29/08/2023

RPI 2747

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

07/06/2022

RPI 2683

Exigências diversas

#1.5

Apresentar a tradução simples da folha de rosto da certidão de depósito da prioridade US 62/884,395 ou declaração contendo, obrigatoriamente, todos os dados identificadores desta conforme o Art. 15 da Portaria 39/2021. O documento apresentado não está traduzido.

29/03/2022

RPI 2673

Alteração de dados cadastrais

#1.1

15/02/2022

RPI 2667

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