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Dado oficial do INPI

PLACA DE CULTURA, E, MÉTODO PARA DETERMINAR A PRESENÇA OU AUSÊNCIA DE ORGANISMOS MICROBIANOS EM UMA AMOSTRA

Em ExigênciaPatente de InvençãoPCT · US2020033058

Dados do pedido

Número

112021022791

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/05/2020

Publicação

11/01/2022

PCT

US2020033058

Andamento no INPI

Parecer técnico a responder
  1. Depósito15/05/20
  2. Publicação11/01/22
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

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Última movimentação publicada pelo INPI: 03/06/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

IDEXX LABORATORIES, INC.

US

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Inventores

D. B. (pessoa física)

US

S. W. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

62/849,509 · 17/05/2019

Resumo técnico

PLACA DE CULTURA, E, MÉTODO PARA DETERMINAR A PRESENÇA OU AUSÊNCIA DE ORGANISMOS MICROBIANOS EM UMA AMOSTRA.Uma placa de cultura inclui uma base e uma tampa. A base inclui uma parede lateral e um fundo côncavo que definem um primeiro volume interno aberto em uma extremidade superior da base. A base inclui adicionalmente um aro anular entre o fundo e uma extremidade inferior do mesmo. A tampa inclui uma parede lateral e um teto que definem um segundo volume interno aberto em uma extremidade inferior da tampa. A tampa inclui adicionalmente um aro anular que se estende radialmente para fora a partir dela. Uma superfície interna da parede lateral da tampa é configurada para recebimento deslizante em torno de uma superfície externa da parede lateral da base para encaixar a tampa em torno da base com os primeiro e segundo volumes internos se sobrepondo um ao outro para definir um volume interno combinado selado delimitado pelas paredes laterais da base e da tampa, pelo fundo e pelo teto.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

03/06/2025

RPI 2839

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

11/01/2022

RPI 2662

Alteração de dados cadastrais

#1.1

23/11/2021

RPI 2655

Monitoramento de patentes

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