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Dado oficial do INPI

MÉTODO E DISPOSITIVO PARA MEDIÇÃO DO PODER REFRATIVO LOCAL E/OU DA DISTRIBUIÇÃO DO PODER REFRATIVO DE UMA LENTE DE ÓCULOS

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2020061238 Documento oficial disponível

Dados do pedido

Número

112021021170

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

22/04/2020

Publicação

14/12/2021

PCT

EP2020061238

Carta-patente disponível

Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.

Acessar documento

Andamento no INPI

  1. Depósito22/04/20
  2. Publicação14/12/21
  3. Exame
  4. Deferimento04/02/25
  5. Concessão06/05/25
  6. Em vigor22/04/40

Patente concedida em 06/05/2025 e em vigor até 22/04/2040. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:22/04/2040

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Última movimentação publicada pelo INPI: 06/05/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH

DE

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

C. G. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

19170715.7 · 23/04/2019

Resumo técnico

MÉTODO E DISPOSIÇÃO PARA MEDIÇÃO DO PODER REFRATIVO LOCAL E/OU DA DISTRIBUIÇÃO DO PODER REFRATIVO DE UMA LENTE DE ÓCULOS. Medição do poder refrativo local ou distribuição do poder refrativo de lente de óculos em armação de óculos (18). Uma primeira imagem de cena (10) com pontos estruturais (26) e lentes de óculos (20, 22) em armação de óculos é capturada a partir de dispositivo de captura de imagens (30) a partir de uma primeira posição de captura (32) com tra-jetória de feixe de imagem para pontos estruturais que se estende através das lentes de óculos na armação de óculos (18). São captura-das outras imagens da cena (10) sem as lentes de óculos ou armação dos óculos contendo as lentes de óculos com os pontos estruturais mostrados na primeira imagem por meio de dispositivo de captura de imagens a partir de posições de captura diferentes (32, 34, 36), onde uma pode ser idêntica à primeira posição de captura e as coordenadas dos pontos estruturais são calculadas em sistema de coordenadas (25) a partir de outras imagens da cena por meio de avaliação de imagem, ou são capturadas outras imagens da cena com as lentes de óculos a partir de posições de captura adicionais (34, 36) diferentes da primeira posição de captura (32) com dispositivo de captura de imagens (30) com trajetória de feixe de imagem para os pontos estruturais mostra-dos na primeira imagem, que não se estende através das lentes de óculos da armação de óculos para, depois, determinar distribuição do poder refrativo k(x,y) para segmento da lente de óculos esquerda e/ou direito (20, 25) em sistema de coordenadas (25) da cena a partir das coordenadas dos pontos estruturais e imagem dos pontos estruturais na primeira imagem da cena.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 22/04/2020, observadas as condições legais

06/05/2025

RPI 2835

Deferimento

#9.1

04/02/2025

RPI 2822

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

17/12/2024

RPI 2815

Parecer de pré-exame

#6.23

02/07/2024

RPI 2791

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

14/12/2021

RPI 2658

Alteração de dados cadastrais

#1.1

03/11/2021

RPI 2652

Monitoramento de patentes

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