Dado oficial do INPI

MÓDULO DE MEDIÇÃO POR LASER E RADAR DE LASER

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · CN2019129585

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Dados do pedido

Número

112021012787

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

28/12/2019

Publicação

14/09/2021

PCT

CN2019129585

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Andamento no INPI

Depósito28/12/19
Publicação14/09/21
Exame
Deferimento08/04/25
Concessão24/06/25
Em vigor28/12/39

Patente concedida em 24/06/2025 e em vigor até 28/12/2039. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:28/12/2039

Última movimentação publicada pelo INPI: 24/06/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.

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Inventores

G. S. (pessoa física)

L. Z. (pessoa física)

X. X. (pessoa física)

Dados técnicos

Classificação IPC

G01S 17/08 G01S 7/481

Prioridades unionistas

201811639922.1 · 29/12/2018

201910581553.3 · 29/06/2019

Resumo técnico

MÓDULO DE MEDIÇÃO DE LASER E RADAR DE LASER.A presente invenção refere-se a módulo de medição de laser e radar de laser, aplicáveis nos campos de direção automática, direção inteligente e similares. No módulo de medição de laser, N conjuntos de alcance de laser são utilizados para fazer um feixe de luz emergente ser incidente em um espelho de reflexão; o espelho de reflexão é utilizado para girar um percurso de luz do feixe de luz emergente e tornar o feixe de luz emergente girado ser incidente em um microgalvanômetro de MEMS, o microgalvanômetro de MEMS é utilizado para mudar a direção do feixe de luz emergente e realizar escaneamento bidimensional, e é também utilizado para mudar a direção de um feixe de luz de eco e fazer o feixe de luz de eco ser incidente no espelho de reflexão, em que o feixe de luz de eco é um feixe de luz refletido após o feixe de luz emergente ser incidente em um objeto alvo; o espelho de reflexão é também utilizado para girar um percurso de luz do feixe de luz de eco e fazer o feixe de luz de eco girado ser incidente nos N conjuntos de alcance de laser; e os N conjuntos de alcance de laser são também utilizados para receber o feixe de luz de eco e executar o alcance de acordo com uma diferença de tempo entre o feixe de luz emergente e o feixe de luz de eco.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 28/12/2019, observadas as condições legais

24/06/2025

RPI 2842

Deferimento

#9.1

08/04/2025

RPI 2831

28.30

Concedido o trâmite prioritário requerido através da petição nº 870250009135, de 04/02/2025, haja vista que atende ao disposto nos artigos 3º, 4º e 5º da Portaria/INPI/PR nº 48, de 29/11/2024, publicada na RPI 2814, de 10/12/2024.

25/02/2025

RPI 2825