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Dado oficial do INPI

MÉTODO E SISTEMA PARA SUPERVISÃO DE UM ESCANEAMENTO DE UM FEIXE DE ENERGIA

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2019086793

Dados do pedido

Número

112021011979

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

20/12/2019

Publicação

08/09/2021

PCT

EP2019086793

Andamento no INPI

  1. Depósito20/12/19
  2. Publicação08/09/21
  3. Exame
  4. Deferimento25/03/25
  5. Concessão20/05/25
  6. Em vigor20/12/39

Patente concedida em 20/05/2025 e em vigor até 20/12/2039. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:20/12/2039

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Depositantes e inventores

Depositantes

ETXE-TAR, S.A.

ES

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Inventores

J. G. (pessoa física)

ES

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

18382982.9 · 21/12/2018

Resumo técnico

MÉTODO E SISTEMA PARA SUPERVISÃO DE UM ESCANEAMENTO DE UM FEIXE DE ENERGIA. Um método para supervisão de um escaneamento de um feixe de energia é revelado. O método compreende fornecer um aparelho configurado para fornecer o feixe de energia; fornecer um escâner configurado para escanear o feixe de energia, em que o escâner compreende um primeiro espelho e um segundo espelho; operar o aparelho e o escâner, de modo que o feixe de energia seja fornecido enquanto é escaneado de acordo com um padrão de escaneamento predeterminado; determinar, através de pelo menos um processador de um dispositivo de computador ou sistema, um padrão de escaneamento real do feixe de energia, quando tanto o aparelho quanto o escâner são operados, através de medições de processamento fornecidas por codificadores do primeiro espelho e do segundo espelho; e comparar, através do pelo menos um processador, o padrão de escaneamento real com uma área de limiar predeterminada. Um sistema para supervisão de um escaneamento de um feixe de energia também é revelado. O sistema compreende um aparelho configurado para fornecer o feixe de energia; um escâner configurado para escanear o feixe de laser, em que o escâner compreende um primeiro espelho e um segundo espelho, em que cada espelho compreende pelo menos um codificador, sendo o escâner e o aparelho configurados para fornecer o feixe de energia enquanto é escaneado de acordo com um padrão de escaneamento predeterminado; e um dispositivo ou sistema de computação que compreende pelo menos um processador. Um produto de programa de computador também é revelado. Um fluxo de dados que é representativo de tal produto de programa de computador também é revelado.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/12/2019, observadas as condições legais

20/05/2025

RPI 2837

Deferimento

#9.1

25/03/2025

RPI 2829

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

03/12/2024

RPI 2813

Parecer de pré-exame

#6.23

11/04/2023

RPI 2727

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/09/2021

RPI 2644

Alteração de dados cadastrais

#1.1

06/07/2021

RPI 2635

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