Transferência deferida
#25.1
28/10/2025
RPI 2860
Dados do pedido
Número
112021005549Tipo
Depósito
Publicação
PCT
JP2018039565 Patente concedida em 14/01/2025 e em vigor até 24/10/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:24/10/2038
Última movimentação publicada pelo INPI: 28/10/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
FUJITSU FRONTECH LIMITED
JP
FUJITSU FRONTECH SYSTEMS LIMITED
JP
Inventores
A. M. (pessoa física)
JP
K. Y. (pessoa física)
JP
Classificação IPC
Resumo técnico
DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO DE NOTAS E MÉTODO DE FISCALIZAÇÃO DE NOTAS.A presente invenção refere-se a dispositivo de inspeção de notas que permite melhorar a precisão com a qual um número de série de uma nota é reconhecido; refere-se ainda a método e a produto de programa. Em um dispositivo de inspeção de notas (14), uma unidade de armazenamento (23) armazena um primeiro modelo de aprendizagem gerado usando imagens de caracteres com orifícios como dados de treinamento, e um segundo modelo de aprendizagem gerado usando imagens de caracteres sem orifícios como dados de treinamento, e uma unidade de reconhecimento de número de série (24) reconhece um caractere formando um número de série de uma nota BL usando o primeiro modelo de aprendizagem quando uma imagem de caractere tem orifícios, mas reconhece o caractere formando o número de série da nota BL usando o segundo modelo de aprendizagem quando a imagem do caractere não tem orifícios.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#25.1
28/10/2025
RPI 2860
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 24/10/2018, observadas as condições legais
14/01/2025
RPI 2819
#9.1
01/10/2024
RPI 2804
#7.1
21/05/2024
RPI 2785
#6.23
01/11/2022
RPI 2704
#1.3
29/06/2021
RPI 2634
#1.1
06/04/2021
RPI 2622
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