Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI
#11.2
10/12/2024
RPI 2814
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Dado oficial do INPI
APARELHO E MÉTODO PARA ANALISAR UMA AMOSTRA.
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · SE2019050703
Dados do pedido
Número
112021001865Tipo
Patente de Invenção
Depósito
18/07/2019
Publicação
27/04/2021
PCT
SE2019050703 Andamento no INPI
- Depósito18/07/19
- Publicação27/04/21
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 10/12/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
OREXPLORE AB
SE
Inventores
A. H. (pessoa física)
SE
M. B. (pessoa física)
SE
Dados técnicos
Prioridades unionistas
SE
1850954-7 · 03/08/2018
Resumo técnico
Um aparelho (100) para analisar uma amostra (101) compreendendo uma amostra de núcleo de perfuração ou resíduos de perfuração é provido. O aparelho compreende uma unidade de dados de estrutura geológica com raios X configurada para varrer a amostra para obter um conjunto de dados indicando um volume da amostra, um detector de fluorescência (109) configurado para medir radiação fluorescente que emana da amostra (101) quando irradiada pelo feixe de raios X, e uma unidade de pesagem (105) configurada para pesar a amostra. O aparelho compreende adicionalmente uma unidade de processamento (104) configurada para calcular uma densidade da amostra (101) com base no conjunto de dados obtido pela unidade de dados de estrutura geológica com raios X, na radiação fluorescente medida pelos detectores de fluorescência e no peso provido pela unidade de pesagem.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Parecer de pré-exame
#6.23
27/08/2024
RPI 2799
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
27/04/2021
RPI 2625
Alteração de dados cadastrais
#1.1
09/02/2021
RPI 2614
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