(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

ANALISADOR DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X, E MÉTODO PARA REALIZAR ANÁLISE DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · FI2018050281

Dados do pedido

Número

112020021461

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

20/04/2018

Publicação

19/01/2021

PCT

FI2018050281

Andamento no INPI

  1. Depósito20/04/18
  2. Publicação19/01/21
  3. Exame
  4. Deferimento17/12/24
  5. Concessão06/03/25
  6. Em vigor20/04/38

Patente concedida em 06/03/2025 e em vigor até 20/04/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:20/04/2038

Deixe seu contato e avisamos você

Acompanhamos as publicações do INPI e avisamos assim que houver movimentação neste processo.

Usamos seus dados apenas para este aviso.

Última movimentação publicada pelo INPI: 16/09/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

METSO FINLAND OY

FI

METSO MINERALS OY

FI

METSO OUTOTEC FINLAND OY

FI

OUTOTEC (FINLAND) OY

FI

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

A. P. (pessoa física)

FI

H. S. (pessoa física)

FI

T. K. (pessoa física)

FI

Dados técnicos

Resumo técnico

ANALISADOR DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X, E MÉTODO PARA REALIZAR ANÁLISE DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X. Um analisador de fluorescência de raios X compreende um tubo de raios X (402) para emitir raios X incidentes (206) na direção de um primeiro eixo ótico (204). Uma unidade de manipulação de pasta (201) é configurada para manter uma distância constante entre uma amostra (202) de pasta e o referido tubo de raios X. Um primeiro difrator de cristal (601) está localizado em uma primeira direção a partir da referida unidade de manipulação de pasta (201), e configurado para separar uma primeira faixa de comprimento de onda predefinida dos raios X fluorescentes (207) que se propagam para a referida primeira direção. É configurado para direcionar os raios X fluorescentes na primeira faixa de comprimento de onda predefinida separada para um primeiro detector de radiação (602, 1505). A potência nominal de entrada do referido tubo de raios X (402) é de pelo menos 400 watts. O primeiro difrator de cristal (601) compreende um cristal de grafite pirolítico (603). O percurso ótico entre o referido tubo de raios X (402) e a referida unidade de manipulação de pasta (201) é direto sem difrator entre eles.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Alteração de sede deferida

#25.7

16/09/2025

RPI 2854

Alteração de nome deferida

#25.4

02/09/2025

RPI 2852

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/04/2018, observadas as condições legais

06/03/2025

RPI 2826

Deferimento

#9.1

17/12/2024

RPI 2815

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

17/09/2024

RPI 2802

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

11/06/2024

RPI 2788

Parecer de pré-exame

#6.23

10/10/2023

RPI 2753

Alteração de nome deferida

#25.4

11/07/2023

RPI 2740

Transferência deferida

#25.1

27/06/2023

RPI 2738

Adição na publicação

#15.35

14/12/2021

RPI 2658

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

19/01/2021

RPI 2611

Alteração de dados cadastrais

#1.1

27/10/2020

RPI 2599

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.