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Dado oficial do INPI

MÉTODO E SISTEMA PARA A EXECUÇÃO DA ANÁLISE DE DADOS COM RELAÇÃO À FENOTIPAGEM

Em ExigênciaPatente de InvençãoPCT · EP2018077060 Documento oficial disponível

Dados do pedido

Número

112020005986

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

04/10/2018

Publicação

29/09/2020

PCT

EP2018077060

Carta-patente disponível

Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.

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Andamento no INPI

Parecer técnico a responder
  1. Depósito04/10/18
  2. Publicação29/09/20
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O INPI emitiu parecer técnico sobre a patenteabilidade. O depositante tem de se manifestar para o exame prosseguir.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 21/10/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

KWS SAAT SE & CO. KGAA

DE

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

C. J. (pessoa física)

DE

C. B. (pessoa física)

DE

L. D. (pessoa física)

DE

S. G. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

17194841.7 · 04/10/2017

Resumo técnico

A invenção refere-se a um método para executar a análise de dados com relação à fenotipagem de plantas de plantas isoladas em um campo e um sistema de aquisição e avaliação de dados para executar a análise de dados com relação à fenotipagem de plantas de plantas isola-das em um campo. Além disso, a invenção refere-se a uma plataforma móvel para uso no referido método e/ou no referido sistema de aquisição e avaliação de dados e um uso da plataforma móvel para dito método e/ou dito sistema de aquisição e avaliação de dados. O método compreende as etapas de captura de dados espectrais por meio de um sensor de formação de imagem hiperespectral, captura de dados de imagem por meio de um sensor de imagem, captura de dados de georreferência por meio de uma unidade de medição inercial, espacialização dos dados de imagem para gerar dados de imagem georreferenciados e um modelo digital de superfície, espacialização dos dados espectrais, geração de dados espectrais georreferenciados com base nos dados espectrais espacializados e no modelo digital de superfície e sobreposição dos dados de imagem georreferenciados e dados espectrais georreferenciados com informações do plano de campo para gerar um conjunto de dados de análise de alta resolução.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

21/10/2025

RPI 2859

Adição na publicação

#15.35

23/11/2021

RPI 2655

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

29/09/2020

RPI 2595

Alteração de dados cadastrais

#1.1

15/09/2020

RPI 2593

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