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Dado oficial do INPI

SISTEMA PARA ANALISAR RESISTÊNCIA AO IMPACTO E À PERFURAÇÃO

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2018030298

Dados do pedido

Número

112020001851

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

30/04/2018

Publicação

28/07/2020

PCT

US2018030298

Andamento no INPI

  1. Depósito30/04/18
  2. Publicação28/07/20
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 05/12/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

DOW GLOBAL TECHNOLOGIES LLC

US

ROHM AND HAAS COMPANY

US

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Inventores

B. G. (pessoa física)

US

D. I. (pessoa física)

US

E. S. (pessoa física)

US

H. S. (pessoa física)

US

J. L. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

US 62/539,381 · 31/07/2017

Resumo técnico

A presente invenção se refere a um método e a um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. O sistema inclui um suporte retentor de material configurado para reter a amostra de filme; um sistema de teste de dardo configurado para testar uma característica física daamostra de filme; e um sistema de movimentação configurado para mover a amostra de filme retida a ser analisada ou testada entre as estações. O sistema de movimentação está configurado para mover a amostra de filme retida no suporte retentor de material para o sistema de teste de dardo.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

05/12/2023

RPI 2761

Parecer de pré-exame

#6.23

25/07/2023

RPI 2742

Adição na publicação

#15.35

03/11/2021

RPI 2652

Desarquivamento

#4.3

26/10/2021

RPI 2651

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

17/08/2021

RPI 2641

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

28/07/2020

RPI 2586

Alteração de dados cadastrais

#1.1

04/02/2020

RPI 2561

Monitoramento de patentes

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