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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE ANÁLISE DE RASGO DE FILMES

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2018030210

Dados do pedido

Número

112020001621

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

30/04/2018

Publicação

21/07/2020

PCT

US2018030210

Andamento no INPI

  1. Depósito30/04/18
  2. Publicação21/07/20
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 09/01/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

DOW GLOBAL TECHNOLOGIES LLC

US

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Inventores

D. M. (pessoa física)

US

J. W. (pessoa física)

US

K. M. (pessoa física)

US

R. G. (pessoa física)

US

S. S. (pessoa física)

US

S. C. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

US 62/539,399 · 31/07/2017

Resumo técnico

Trata-se de um método e um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. O sistema inclui um sistema retentor de material configurado para reter a amostra de filme; e um dispositivo de análise de rasgo configurado para rasgar a amostra de filme e medir uma característica do rasgo. O sistema móvel está configurado para mover a amostra de filme no sistema retentor de material para o dispositivo de análise de rasgo.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

09/01/2024

RPI 2766

Parecer de pré-exame

#6.23

19/09/2023

RPI 2750

Adição na publicação

#15.35

03/11/2021

RPI 2652

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

21/07/2020

RPI 2585

Alteração de dados cadastrais

#1.1

04/02/2020

RPI 2561

Monitoramento de patentes

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